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本实用新型公开了一种芯片测试系统，包括用于对芯片进行测试的晶体管图示仪，与晶体管图示仪电连接的芯片测试座，芯片测试座包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于插接连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座...
该专利属于成都先进功率半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都先进功率半导体股份有限公司授权不得商用。

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