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本实用新型公开了一种电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置，所述电介物质介电系数微波测量探头包括同轴结构的外导体、内导体及位于内外导体之间的绝缘介质，探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构，另一端设计有使探头接入测量系统的...
该专利属于四川大学所有，仅供学习研究参考，未经过四川大学授权不得商用。

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