【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置，所述电介物质介电系数微波测量探头包括同轴结构的外导体、内导体及位于内外导体之间的绝缘介质，探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构，另一端设计有使探头接入测量系统的同轴接口。所述物质介电系数微波测量装置，包括以上所述结构的探头和盛装待测介电系数物质的密闭金属容器，所述密闭金属容器由容器罐体和容器罐盖构成，容器罐盖上设计有与探头外导体外柱面相匹配的插入孔。采用由本技术构成的微波测量系统测量物质介电系数，解决了现有技术微波测量装置测量物质介电系数精度不高，难以满足宽带在线测量要求的等问题。【专利说明】电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置
本技术涉及微波频率下电介质物质介电系数的测量技术，更为具体地说，是涉及一种用于以微波测量电介质物质介电系数的探头，以及由其构成的物质介电系数微波测量装置。
技术介绍
物质介电特性的测量在微波工程、微波物质处理过程、微波化学及生物医学工程中都有着非常重要的作用。人们通过测量物质的介电系数了解物质的介电特性，由此，产生了多种微波测量方法...
【技术保护点】
一种电介物质介电系数微波测量探头，包括同轴结构的外导体（4）、内导体（2）及位于内外导体之间的绝缘介质（3），其特征在于，探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构，另一端设计有使探头接入测量系统的同轴接口。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄卡玛，陈倩，杨阳，刘长军，闫丽萍，赵翔，陈星，郭庆功，杨晓庆，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：新型
国别省市：四川;51
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