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用于X射线衍射测量的具有针对非理想传感器行为的校正的多次采样CMOS传感器制造技术
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下载用于X射线衍射测量的具有针对非理想传感器行为的校正的多次采样CMOS传感器的技术资料
文档序号:10258831
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通过一个五步骤处理来降低CMOS有源像素传感器中的每个像素的读出噪声,在该五步骤处理中,在一个传感器帧时间段期间对来自该传感器的像素电荷数据进行多次无损采样,且针对增益变化和非线性校正该像素电荷数据。然后,估计固定图案噪声和暗电流噪声,且将...
该专利属于布鲁克AXS公司所有,仅供学习研究参考,未经过布鲁克AXS公司授权不得商用。
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