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本发明提供一种非破坏检查装置。非破坏检查装置(1)具备X射线照射器(20)、低能检测器(32)、高能检测器(42)、低能透过率计算部(72)、高能透过率计算部(74)、检测部(76)及补正部(78)。计算部(72)计算表示透过X射线的低能范...
该专利属于浜松光子学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过浜松光子学株式会社授权不得商用。

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