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本发明属于光谱测量技术领域，涉及一种高空间分辨双轴差动共焦图谱成像方法与装置。本发明的核心思想是融合双轴差动共焦显微和光谱探测技术，采用分割焦斑差动探测实现几何位置的精密成像，简化了传统差动共焦显微系统的光路结构，继承了双轴显微技术的大视场...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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