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高功率半导体激光器测试系统属于高功率半导体激光器测试装置领域，该系统包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元；噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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