检测体检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种检测体检查装置，通过光学地测量源自磁性粒子自身的检查液的浊度或吸光度来对检测对象分子进行定量，目的在于得到高精度的检查结果。磁体（41）对检查容器（31）中收存的、包含检测体和磁性粒子的检查液施加磁场。测光机构具有光源（210）和检测器（220）。光源（210）朝着检查液照射光。检测器（220）检测来自在夹着检查容器（31）与光源（210）对置的位置处设置的检查液的光。磁体（41）具有使磁场的磁通密度在检查容器（31）内的检查液中大致均匀的几何学配置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】本专利技术提供一种检测体检查装置，通过光学地测量源自磁性粒子自身的检查液的浊度或吸光度来对检测对象分子进行定量，目的在于得到高精度的检查结果。磁体（41）对检查容器（31）中收存的、包含检测体和磁性粒子的检查液施加磁场。测光机构具有光源（210）和检测器（220）。光源（210）朝着检查液照射光。检测器（220）检测来自在夹着检查容器（31）与光源（210）对置的位置处设置的检查液的光。磁体（41）具有使磁场的磁通密度在检查容器（31）内的检查液中大致均匀的几何学配置。【专利说明】检测体检查装置
本专利技术的实施方式涉及检测体检查装置。
技术介绍
在免疫检查、检测体检查中利用磁性粒子。通过利用磁性粒子可以选择性地且高灵敏度地检测检测体中包含的微量分子。磁性粒子根据需要在磁铁矿等的磁性材料中结合高分子材料而形成直径从几十nm到几μ m左右的微小粒子状。用抗体等修饰磁性粒子的表面，以使得可以与特定的检测对象分子直接或间接地且特异地结合。现有技术文献专利文献1:日本特公昭63-187157号公报专利文献2:日本特开平1-193647号公报专利文献3:日本特开平6-21本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：内川明日香，金山省一，池田成，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝医疗系统株式会社，
类型：
国别省市：