一种具有无摩擦角度测量的磁流体密封轴制造技术

技术编号:9973039 阅读:119 留言:0更新日期:2014-04-26 07:37
本实用新型专利技术公开了一种具有无摩擦角度测量的磁流体密封轴,涉及热真空实验下轴的角度测试装置,包括传动轴、两个气浮套、无磁性座、磁芯组件,述磁芯组件、第一气浮套、第二气浮套从左至右依次套装在传动轴上,传动轴位于第一气浮套和第二气浮套的间隙部分设有环状凸起,环状凸起侧面上装有环形编码盘,第二气浮套靠近环状凸起的环形端面设有一个盲孔,盲孔内设有激光探头,激光探头正对环形编码盘。本实用新型专利技术利用磁芯组件进行密封,气浮轴承进行支撑,在第一气浮套和第二气浮套靠近环状凸起的两个环形端面沿着轴向均匀分布排气孔,在两个气浮套和环状凸起之间形成稳定气膜,防止环状凸起和气浮套直接接触导致的相对摩擦影响测量的精度。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种具有无摩擦角度测量的磁流体密封轴,涉及热真空实验下轴的角度测试装置,包括传动轴、两个气浮套、无磁性座、磁芯组件,述磁芯组件、第一气浮套、第二气浮套从左至右依次套装在传动轴上,传动轴位于第一气浮套和第二气浮套的间隙部分设有环状凸起,环状凸起侧面上装有环形编码盘,第二气浮套靠近环状凸起的环形端面设有一个盲孔,盲孔内设有激光探头,激光探头正对环形编码盘。本技术利用磁芯组件进行密封,气浮轴承进行支撑,在第一气浮套和第二气浮套靠近环状凸起的两个环形端面沿着轴向均匀分布排气孔,在两个气浮套和环状凸起之间形成稳定气膜,防止环状凸起和气浮套直接接触导致的相对摩擦影响测量的精度。【专利说明】一种具有无摩擦角度测量的磁流体密封轴
本技术涉及一种热真空实验下轴的角度测试装置,尤其涉及一种具有无摩擦角度测量的磁流体密封轴。
技术介绍
热真空试验是指在规定的真空和热循环条件下检验被测件的性能和功能的试验。热真空试验不仅需要有能模拟外太空真空环境的真空模拟系统,而且需要有能对设备进行驱动或加载以模拟机构所受驱动及负载装置,同时还要具备实时高精度测量设备的转矩、转角及转速等信息本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:单晓杭王威翔
申请(专利权)人:浙江工业大学
类型:实用新型
国别省市:

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