【技术实现步骤摘要】
利用查找表修正非线性畸变的快速三维测量系统及方法
本专利技术涉及数字图像和三维数据处理
,具体涉及一种利用查找表修正非线性畸变的快速三维测量系统及方法。
技术介绍
光学三维测量分为被动三维测量与主动三维测量两类。被动三维测量技术不需要结构光照明,直接从一个或者多个摄像系统获取二维图像,根据视差等信息提取三维信息。被动测量的关键在于使用相关算法从不同图像中找到对应点,这种方法虽然硬件结构简单,但是仅适合用于对被测物体细节要求不高的场合,在工业测量领域中应用较少。主动三维测量技术采用不同的投射装置向被测量的物体投射不同种类的结构光,并同步拍摄经被测物体表面调制而发生形变的结构光图像,然后通过从携带有物体形貌的图像中解码计算出被测物体的三维形貌数据。主动测量技术中,结构光三维测量技术发展极为迅速,上世纪八十年代,德国率先开始对面结构光三维测量技术进行研究。结构光三维测量系统通常采用CCD照相机,投影机,以及计算机,测量过程包括系统标定,数据扫描以及三维点云计算。近两年来,微软推出了Kinect体感摄像头,华硕公司的XtionPROLIVE,Mac的体感控制器制造公司Leap公司的LeapMotion以及ToF摄像头,虽然这些摄像头都可以直接获取三维数据,但是数据精度差,扫描数据结果受物体表面材质影响大,以及需要后期开发摄像头的相关应用程序才能使用,很不方便。上述测量系统在测量精度,测量稳定性和工业设计上还存在如下缺点:(1)系统使用物理光栅,对光栅投影装置内控制系统的精度和光栅片的制作工艺有很高的要求,包括2010年微软推出的KinectforWindow
【技术保护点】
利用查找表修正非线性畸变的快速三维测量系统,包括投影机、照相机、计算机及用于三维校准的标靶,所述标靶置于照相机能够捕捉且投影仪射出的光也能够覆盖的范围,所述计算机分别与投影机和照相机进行信号传输,其特征在于:还包括用于控制照相机与投影机同步开启的触发电路,所述同步触发电路采用NPN三极管放大电路,计算机VGA管脚的控制输出端分别与投影机和三极管放大电路的基极连接,三极管放大电路的集电极再与照相机连接。
【技术特征摘要】
1.利用查找表修正非线性畸变的快速三维测量方法,快速三维测量系统包括投影机、照相机、计算机及用于三维校准的标靶,所述标靶置于照相机能够捕捉且投影仪射出的光也能够覆盖的范围,所述计算机分别与投影机和照相机进行信号传输,还包括用于控制照相机与投影机同步开启的触发电路,所述同步触发电路采用NPN三极管放大电路,计算机VGA管脚的控制输出端分别与投影机和三极管放大电路的基极连接,三极管放大电路的集电极再与照相机连接,其特征在于:所述利用查找表修正非线性畸变的快速三维测量方法包括以下步骤:1.1、搭建三维测量系统,具体步骤为:1.1.1、放置标靶于摄像头能够捕捉的范围,投影机射出的光照能够覆盖扫描的范围;1.1.2、打开照相机设置界面,合理设置照相机的曝光时间以及触发模式,保证照相机与投影机处于同步状态;1.1.3、在确保照相机焦距处于最佳状态,实时检测在白光照射下,拍摄到的图像中是否产生上溢或者下溢,若有上溢或者下溢的现象,则要适当调整照相机光圈,以保证照相机处于最理想的拍摄状态,并重复进行上述过程;1.2、对三维测量系统进行校准,具体步骤为:1.2.1、先导入预先通过测量标靶并计算得到的N组圆心三维点坐标,其中N≥6,然后从照相机拍摄的图像中获取标靶在照相机中的图像,并依次选取标靶每个面上方框的四个角点坐标;1.2.2、采用透视投影矩阵的方法对畸变的图案进行校正映射,具体转换公式如下所示,并应用双线性插值法或者最邻近插值法对校正后的图案进行插值,使得图案被修正并达到较好的效果;公式中,(x’,y’)为校正后的坐标点,(x,y)为校正前的坐标点,s为比例因子,g为透视投影矩阵;1.2.3、把步骤1.2.2中校正好的图案进行灰度化处理,然后再进行二值化处理,在得到的二值化图像中查找每个圆的圆心,并保存;1.2.4、重复步骤1.2.1-1.2.3,获取标靶另一个面上的坐标点;1.2.5、通过这两组坐标点得到关于照相机与三维世界坐标系的转换矩阵Mwc,具体公式如下所示,保存并进入下面步骤1.2.6;照相机坐标与世界坐标之间的转换公式如下:从而得到照相机与世界坐标的转换矩阵Mwc记为:Mwc可以用最小二乘法作为伪逆矩阵得到;1.2.6、通过投影机,将预先进行纵向编码的不同频率的正弦波图片投射到标靶的表面,通过照相机同步抓取,再将抓取到的图片进行解相位并进行相位展开,然后再通过展开后的相位值得到与步骤1.2.1中三维点坐标对应的坐标值,得到投影机与三维世界坐标系的转换矩阵Mwp并保存,...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘凯,王帅军,胡子阳,
申请(专利权)人:成都天拓众成科技有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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