【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种金属分析仪，其特征在于：包括如下结构：射线发生装置发出射线轰击待分析金属，底片接收成像加以分析计算，粒子吸收装置吸收多余粒子防止辐射污染。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘和超，
申请(专利权)人：沈阳洪达信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21
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