一种光学测量设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测量待测件断差值技术领域，特别涉及一种光学测量设备；包括机架，机架中设有工控系统，其上端设有工作台，工作台上设有固定装置、影像装置、激光测量装置以及第一驱动装置，影像装置、激光测量装置以及第一驱动装置与工控系统电信号连接；影像装置检测待测件并确定待测件的位置，将待测件的位置信息发送给工控系统；根据待测件的位置信息，工控系统控制激光测量装置对待测件测量，影像装置和激光测量装置的移动通过第一驱动装置完成，激光测量装置将对待测件的信息发送给工控系统；根据待测件的测量信息，工控系统对其分析，并得出待测件的断差值，特别是待测件圆弧面的断差值，从而光学测量设备完成对待测件的自动化测量。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种测量待测件断差值
，特别涉及一种光学测量设备；包括机架，机架中设有工控系统，其上端设有工作台，工作台上设有固定装置、影像装置、激光测量装置以及第一驱动装置，影像装置、激光测量装置以及第一驱动装置与工控系统电信号连接；影像装置检测待测件并确定待测件的位置，将待测件的位置信息发送给工控系统；根据待测件的位置信息，工控系统控制激光测量装置对待测件测量，影像装置和激光测量装置的移动通过第一驱动装置完成，激光测量装置将对待测件的信息发送给工控系统；根据待测件的测量信息，工控系统对其分析，并得出待测件的断差值，特别是待测件圆弧面的断差值，从而光学测量设备完成对待测件的自动化测量。【专利说明】一种光学测量设备
本技术涉及一种测量待测件断差值
，特别涉及一种光学测量设备。
技术介绍
电子产品及配件、精密机械零件、玻璃、液晶屏等涉及到的电子行业、玻璃加工行业、机械加工制造业、精密仪器量具行业，在生产过程中需要对工件进行高度差、缝宽检测。现有技术的基本采用人工检测方式，先用规尺量，然后肉眼观察，也有少部分采用0ΜΜ、0ΕΜ专用测量仪器，但都存在效率低、精确度低等问题，导致检测结果的数据误差大，无法得到产品的准确测量值，现有的检测方式对操作人员专业技能的要求也很高，若操作人员专业技能差，还会存在人为因素造成的误差比较大的问题，甚至对产品造成刮伤、变形、扭曲导致产品报废。有些体积大且重的产品或工件无法采用人工测量。
技术实现思路
针对现有技术不足，本技术提出一种光学测量设备，利用激光测量装置自动检测待测件，且不需接触待测件，旨在解决现有的人工检测方式存在效率低、精确度低以及对操作人员专业技能的要求高的问题。本技术提出的技术方案是:一种光学测量设备，包括机架，所述机架中设有工控系统，其上端设有工作台，所述工作台上设有:固定装置，用于固定待测件；影像装置，用于检测所述待测件在所述工作台上位置并将该位置信息反馈给所述工控系统；激光测量装置，用于测量所述待测件信息并将该测量信息反馈给所述工控系统；第一驱动装置，用于驱使所述影像装置以及所述激光测量装置在所述工作台上移动；所述影像装置、所述激光测量装置以及所述第一驱动装置与所述工控系统电信号连接。进一步地，所述第一驱动装置为XYZ三轴运动平台，所述XYZ三轴运动平台包括X轴平台、Y轴平台以及Z轴平台，所述X轴平台固定于所述工作台上，所述Y轴平台滑设于所述X轴平台上以及所述Z轴平台滑设于所述Y轴平台上，所述影像装置及所述激光测量装置滑设于所述Z轴平台侧边上。进一步地，所述影像装置及所述激光测量装置与所述Z轴平台之间设有旋转调节装置，所述旋转调节装置包括连接板以及旋转调节器，所述连接板一侧滑动连接于所述Z轴平台上，其另一侧连接有所述旋转调节器，所述旋转调节器上连接有旋转板，所述影像装置及所述激光测量装置固定于所述旋转板上。进一步地，所述旋转板下端朝外折弯形成折弯部，所述影像装置固定于所述折弯部上。进一步地，所述影像装置及所述激光测量装置位于所述X轴平台上方且置于所述Y轴平台一侧。进一步地，所述影像装置包括CXD相机、镜头，所述镜头设于所述CXD相机前端，所述镜头朝所述固定装置方向布置。进一步地，所述激光测量装置包括激光测距仪，所述激光测距仪前端具有发射光束至待测件上的激光发射器。进一步地，所述固定装置包括两相间布置的支撑板以及放料板，所述放料板设于两所述支撑板上端面，所述放料板上设有夹紧装置，所述夹紧装置包括定位柱，移动柱以及第二驱动装置，所述定位柱固定于所述放料板上端面，所述第二驱动装置驱使所述移动柱朝所述定位柱方向前后移动，所述定位柱与所述移动柱围成一用于安装所述待测件的安装区。进一步地，所述第二驱动装置设于所述放料板下端面，其包括气缸、导轨以及在所述导轨上滑动的移动架，所述气缸具有输出轴，所述气缸的输出轴与所述移动架连接，所述移动柱设于所述移动架上，所述放料板中设有条形孔，所述移动柱穿过所述条形孔且在所述条形孔内前后移动，其上端伸出所述条形孔外。进一步地，所述第二驱动装置包括一拉杆，所述移动架上设有朝下折弯的折弯件，所述折弯件设有通孔，所述拉杆穿过所述通孔，所述拉杆一端与所述气缸的输出轴连接，另一端设有杆帽，所述杆帽与所述折弯件一侧之间套设有压缩弹簧，所述拉杆的杆体上设有限位块，所述限位块位于所述折弯件另一侧。根据上述的技术方案，本技术有益效果:影像装置检测待测件并确定待测件的位置，将待测件的位置信息发送给工控系统。根据待测件的位置信息，工控系统控制激光测量装置对待测件测量，影像装置和激光测量装置的移动通过第一驱动装置完成，激光测量装置将对待测件的信息发送给工控系统。根据待测件的测量信息，工控系统对其分析，并得出待测件的断差值，特别是待测件圆弧面的断差值，从而光学测量设备完成对待测件的自动化测量。激光测量装置利用激光束对待测件测量，不需接触待测件，避免了因测量时接触待测件而损坏待测件。【专利附图】【附图说明】图1是本技术实施例提供的光学测量设备的立体图；图2是图1中A处的局部放大图；图3是本技术实施例提供的固定装置的立体图；图4是本技术实施例提供的第二驱动装置的立体图；图5是本技术实施例提供具有上罩的光学测量设备的立体图。【具体实施方式】为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。如图1~5所示，为本技术提供的一较佳实施例。如图1所示，本技术实施例提出一种光学测量设备，包括机架1，机架I中设有工控系统(在图中未标注)，其上端设有工作台11，工作台11上设有:固定装置2，用于固定待测件100 ；影像装置3，用于检测待测件100在工作台11上位置并将该位置信息反馈给工控系统；激光测量装置4，用于测量待测件100信息并将该测量信息反馈给工控系统；第一驱动装置5，用于驱使影像装置3以及激光测量装置4在工作台11上移动；影像装置3、激光测量装置4以及第一驱动装置5与工控系统电信号连接。待测件100置放于固定装置2中，并且被固定装置2固定，工控系统控制第一驱动装置5和影像装置3，在第一驱动装置5带动下，影像装置3检测在固定装置2中的待测件100的位置，影像装置3将检测到的待测件100位置信息发送给工控系统。工控系统确定待测件100位置信息后，工控系统控制第一驱动装置5和激光测量装置4，在第一驱动装置5带动下，激光测量装置4在待测件100周围移动，对待测件100取点测量，特别适用于待测件100圆弧面取点测量，激光测量装置4将测量信息发送给工控系统，工控系统获得测量信息后，由软件分析，从而得出待测件100的断差值。根据上述的技术方案，工控系统能够实现对待测件100自动化测量，并且其测量方式利用激光测量装置4对待测件100取点测量，不需接触待测件100，避免了因接触测量而损坏待测件100。工控系统实现了自动化测量，提高了测量的效率以及精确，同时，相对于传统人工测量方式，对操作人员的专业技能要求较低。激光测量装置4对待测件100取点测量可以是，在待测件1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测量设备，包括机架，其特征在于，所述机架中设有工控系统，其上端设有工作台，所述工作台上设有：工件固定装置，用于固定待测件；影像装置，用于检测所述待测件在所述工作台上位置并将该位置信息反馈给所述工控系统；激光测量装置，用于测量所述待测件信息并将该测量信息反馈给所述工控系统；第一驱动装置，用于驱使所述影像装置以及所述激光测量装置在所述工作台上移动；所述影像装置、所述激光测量装置以及所述第一驱动装置与所述工控系统电信号连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴顺柏，王红波，刘朋飞，辛亚康，仝敬烁，尹建刚，高云峰，
申请(专利权)人：深圳市大族激光科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44