一种检测隔垫物的方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种检测隔垫物的方法、系统及装置，其中的方法包括：多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，红外线照射在隔垫物上；分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。利用红外测距原理对隔垫物进行红外线扫描，将不同位置隔垫物反射的红外线进行拼图形成全彩膜基板的红外图像。该方法有利于对隔垫物盒厚进行测量，根据隔垫物测量的数据对液晶滴注机进行调整，可以更好地控制盒厚，提高液晶屏幕显示效果。

【技术实现步骤摘要】
—种检测隔垫物的方法、系统及装置
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种检测隔垫物的方法、系统及装置。
技术介绍
液晶显示器是常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin FilmTransistor-Liquid Crystal Display,简称TFT-1XD)是液晶显示器中的主流产品。TFT-1XD通常包括对盒设置的阵列基板(TFT基板)和彩膜基板(CF基板)，在阵列基板和彩膜基板之间填充有液晶层。同时在阵列基板和彩膜基板之间还设置有隔垫物，隔垫物将对阵列基板和彩膜基板起到支撑盒厚的作用。隔垫物是液晶显示器的重要部件，隔垫物的高度决定了对盒后的阵列基板和彩膜基板需注入液晶的用量。隔垫物主要分为球形隔垫物及柱状隔垫物，柱状隔垫物由于能够很好地控制液晶分布密度，从而能有效地保证液晶盒厚的均一性，成为现有普遍采用的方法。如果隔垫物在受力不均匀或者是受到外力影响之后不能回复到原状的情况，隔垫物上方和下方的基板容易发生偏移，造成显示器出现白不良的现象，因此需要对隔垫物进行检测，以便根据测量的隔垫物厚度对液晶滴注进行调整，以便更好地控制盒厚。现有技术中对于隔垫物的检测主要是通过CO) (Charge-coupled Device,即电荷I禹合元件)镜头获取隔垫物的图像，之后通过根据灰度值检测出不合格的隔垫物，但是检测精度不高，并且检测速度也比较慢，由于CXD镜头是在可见光下获取到的图像，因此对于隔垫物内部的结构以及其与彩膜基板之间的连接情况都无法进行检测，由于对隔垫物的内部和弹性模量都不能测量，这样在取向和对盒后，形成液晶盒盒厚不一定是最佳的盒厚。另外，目前的检测设备装置复杂，采用大理石机台、下部防震台，还需要较高的防震系数，也就是对检测条件要求比较高，因此，现有技术中检测隔垫物的设备和方法导致测量得到的测量结果不够准确，影响了液晶显示器的质量，光学系统非常复杂，设备维护费用大。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是如何能够对隔垫物进行方便简单的检测，以提高检测准确度以及测量精度。(二)技术方案为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种检测隔垫物的方法，其特征在于，包括:多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，所述红外线照射在隔垫物上；分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。进一步地，所述经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的图像具体包括:对接收到的隔垫物发射回来的光线进行过滤，去除红外线之外的光线，并采集过滤后的光线形成红外图像。进一步地，所述采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线具体包括:利用阵列红外波探头进行红外线的采集，单个阵列红外波探头作为发射器和接收器或者是两个阵列红外波探头其中一个作为发射器，另一个作为接收器。进一步地，所述采集到反射回来的不同波长的红外线之后还包括:基于隔垫物的表面轮廓利用红外波探头位置函数计算信号处理参数，对隔垫物发射的红外波束失真进行校正。为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种检测隔垫物的系统，该系统设置在三维扫描平台上，对全彩膜基板进行立体扫描和检测，包括:光源、取像单元、控制单元、光强累积单元和比较计算单元，其中光源提供多个子光源，在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线；所述取像单元用于分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；所述控制单元与光源和取像单元相连接，控制光源的多个子光源在不同的时间发射出光强相同的红外线，并控制取像单元采集反射回来的不同波长的红外线；所述光强累积单元与取像单元相连接，用于对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；所述比较计算单元与光强累积单元连接，用于对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。进一步地，所述子光源为红外线发光二极管。进一步地，所述取像单元包括镜头、滤光片和感测器，其中镜头朝向隔垫物反射的红外线，镜头接收的红外线经过滤光片的过滤，滤除非红外线，感测器用来感测经过滤光片过滤的红外线。进一步地，所述比较计算单元对经过光强累积单元计算得到的每个红外图像对应的总光强进行比较，确定总光强值最大的红外图像，并根据红外线传播过程中光强与传播距离的平方成反比的关系计算总光强最大的红外图像中隔垫物之间的距离。进一步地,还包括显示单元和电源单元,且电源单元连接于控制单元和显示单元之间，其中显示单元与比较计算单元相连接，实时显示比较计算单元计算得到的隔垫物之间的距离。进一步地，还包括阵列红外波探头，用于在扫描隔垫物时获取隔垫物的表面轮廓。进一步地，还包括信号处理单元，用于对表面轮廓利用红外波探头函数计算得到信号处理参数，进一步对隔垫物发射的红外波束失真进行校正。为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种检测隔垫物的装置，包括基台，其特征在于，所述基台上还设置有水平导轨、垂直导轨和红外摄像管，其中红外摄像管安装在垂直导轨上，也沿着垂直导轨在垂直方向运动，所述垂直导轨的两端在水平导轨上进行水平方向的滑动，所述红外摄像管为以上所述的检测隔垫物的系统中的取像单元。进一步地，所述装置还包括电缸和位置传感器，其中电缸为垂直导轨和水平导轨的移动提供动力，所述位置传感器对垂直导轨在水平导轨上运动的位置进行检测。(三)有益效果本专利技术实施例提供的一种检测隔垫物的方法、系统及装置，其中检测隔垫物的方法包括:多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，红外线照射在隔垫物上；分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。该方法利用红外测距原理对隔垫物进行红外线扫描，将不同位置隔垫物反射的红外线进行拼图形成全彩膜基板的红外图像。该方法通过多个不同波长的红外线子光源分时照射隔垫物，并选取光强最大的红外图像所对应的红外线去计算与隔垫物之间的距离，减小了红外线在传播过程中因隔垫物的色彩对其光强造成的损失，从而提高了量测精度，同时还有利于对隔垫物盒厚进行测量，根据隔垫物测量的数据对液晶滴注机进行调整，可以更好地控制盒厚，提高液晶屏幕显示效果。【附图说明】图1是圆台形柱状隔垫物的示意图；图2是球形隔垫物的示意图；图3是本专利技术实施例一中提供的一种检测隔垫物的方法的步骤流程图；图4是本专利技术实施例二提供的一种检测隔垫物的系统的组成示意图；图5是本专利技术实施例三提供的一种检测隔垫物的装置的结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图和实施例，对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。目前TFT-1XD工艺中所使用的隔垫物主要包括柱状隔垫物(Post Spacer，简称PS)和球状隔垫物(Ball Spacer,简称BS)两种。柱状隔垫物PS分主PS (Mai本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测隔垫物的方法，其特征在于，包括：多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，所述红外线照射在隔垫物上；分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。

【技术特征摘要】
1.一种检测隔垫物的方法，其特征在于，包括: 多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，所述红外线照射在隔垫物上； 分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像； 对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强； 对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的图像具体包括: 对接收到的隔垫物发射回来的光线进行过滤，去除红外线之外的光线，并采集过滤后的光线形成红外图像。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线具体包括: 利用阵列红外波探头进行红外线的采集，单个阵列红外波探头作为发射器和接收器或者是两个阵列红外波探头其中一个作为发射器，另一个作为接收器。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集到反射回来的不同波长的红外线之后还包括:基于隔垫物的表面轮廓利用红外波探头位置函数计算信号处理参数，对隔垫物发射的红外波束失真进行校正。5.一种检测隔垫物的系统，该系统设置在三维扫描平台上，对全彩膜基板进行立体扫描和检测，其特征在于，包括: 光源、取像单元、控制单元、光强累积单元和比较计算单元，其中光源提供多个子光源，在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线； 所述取像单元用于分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像； 所述控制单元与光源和取像单元相连接，控制光源的多个子光源在不同的时间发射出光强相同的红外线，并控制取像单元采集反射回来的不同波长的红外线； 所述光强累积单元与取像单元相连接，用于对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个...

【专利技术属性】
技术研发人员：井杨坤，林晓华，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：