【技术实现步骤摘要】
—种用于测量液晶模组Fl icker闪烁值的方法及装置
本专利技术涉及薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay, TFT-1XD)的测量技术，特别涉及一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及>J-U装直。
技术介绍
在液晶面板的使用过程中，由于公共电极信号(Vcom)的极性切换会产生水平的条纹的闪烁现象，我们一般称之为Flicker现象。其中，Flicker闪烁值的数值大小，也直接反应了液晶面板的品质可靠性。通常Flicker闪烁值的数值越小，液晶面板产生图像残留(Image Sticking, IS)的风险越小，反之则风险越大。所以，如何测量Flicker闪烁值的数值大小以及控制Flicker闪烁值在预定范围之内是在液晶面板的设计及制造过程中需要面临的问题。现有的技术中，对Flicker闪烁值进行测量通常采用诸如:FMA方法、JEITA方法以及VESA方法。现有的这几种测量方法的共同点是，用Flicker去反应人眼对闪烁的直观感受。FM方法用亮度变化的交流分量比直流分量代表Flicker ;而JEITA方法和VESA方法则是用FFT分频计量闪烁各频率的分贝值，再对全频谱积分或找到最大分贝值。这些方法虽然能够对人眼对闪烁的观察进行量化分析，但是并不能直接表示Vcom极性切换造成的Flicker现象。而且往往由于其他因素的影响，比如背光的闪烁、地线不稳定等因素导致测得的Flicker值不能准确反映Vcom偏移程度。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种...
【技术保护点】
一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，包括如下步骤：给待测液晶模组提供Flicker画面；利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。
【技术特征摘要】
1.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，包括如下步骤: 给待测液晶模组提供Flicker画面； 利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号； 接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号； 对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值； 通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。2.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括: 利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号； 利用放大电路对所述亮度信号进行放大； 将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。3.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。4.如权利要求3所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值的步骤具体为: 通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值:5.如权利要求1-4任一项所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，进一步包括: 根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。6.一种用于测量液晶模组Flicke...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴叶，康志聪，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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