隔垫物检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种隔垫物检测装置及方法。该方法包括：产生透过带有隔垫物的基板的X射线，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；利用灰度图像测量隔垫物的高度。本发明专利技术采用X射线成像原理对彩膜基板上的隔垫物进行检测，利用X射线荧光转换装置产生可见光并生成灰度图像，对灰度图像进行识别处理，能准确测量隔垫物的高度，并且可以检测隔垫物的内部及连接状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及。
技术介绍
随着科技的发展，液晶显示已经频繁应用于各种设备中。目前，液晶显示器是常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay,简称TFT-1XD)是液晶显示器中的主流产品。TFT-1XD通常包括对盒设置的阵列基板和彩膜基板，在阵列基板和彩膜基板之间填充有液晶层。其中，在阵列基板和彩膜基板之间设置有隔垫物，隔垫物对阵列基板和彩膜基板起到支撑盒厚的作用。隔垫物是液晶显示器的重要部件，隔垫物的高度决定了对盒后的阵列基板和彩膜基板需注入液晶的用量。隔垫物主要分为球形隔垫物及柱状隔垫物，其中，柱状隔垫物因为能很好地控制分布密度，从而能有效地保证液晶盒厚的均一性，成为现有普遍采用的方法。现有技术中一般采用CXD图像矩形面阵传感器直接检测隔垫物，测量速度比较慢，对装置震动要求比较高，微小的异常都会引起测量不够准确，造成液晶盒厚的异常，对于液晶旋光性及液晶屏的显示效果都会有很大影响，并且会产生很多不良，如低温起泡(Bubble)等，影响了液晶显示器的质量；需要采用大理石基座、下部防震台等，对设备的安装的要求比较高；只能进行表面的检测，无法检测内部的损伤。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是:提供简易的，对隔垫物进行准确的检测。(二)技术方案为解决上述问题，根据本专利技术的第一方面，提供了一种隔垫物检测装置，包括:X射线成像单元和图像处理单元，其中X射线成像单元包括X射线源和X射线敏感镜头；X射线源，用于产生透过带有隔垫物的基板的X射线；X射线敏感镜头，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；图像处理单元，利用灰度图像测量隔垫物的高度。优选地，X射线源和X射线敏感镜头关于基板位置相对，X射线源为X射线阵列源，X射线敏感镜头为X射线敏感平板探测器。优选地，X射线敏感镜头与基板之间设置有光阑。优选地，所述X射线成像单元为两个，关于基板位置相对，其中任一个的X射线成像单元的X射线敏感镜头接收另一个X射线成像单元的X射线源透过基板的X射线，形成灰度图像。优选地，所述两个X射线成像单元可以在圆弧轨道上移动，使得X射线入射基板的角度改变。根据本专利技术的第二方面，提供了一种隔垫物检测方法，包括:产生透过带有隔垫物的基板的X射线，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；利用灰度图像测量隔垫物的高度。优选地，所述形成灰度图像包括:将同一区域的反面灰度图像和正面灰度图像进行反转复合，得到用于测量隔垫物的高度的灰度图像。[0021 ] 优选地，该方法还包括:若灰色图像某个区域的灰度值超过设定的阈值，则改变X射线的发射角度，再次对所述基板的对应区域进行检测。优选地，所述利用灰度图像测量隔垫物的高度包括:根据设定的对应关系将灰度图像像素的灰度值换算为隔垫物的高度值。优选地，所述利用灰度图像测量隔垫物的高度包括:灰度图像包括同一区域的不同深度的若干剖析图像，从中找到隔垫物的顶和底所在的剖析图像，两者之间的深度之差即为隔垫物的高度。优选地，该方法还包括:利用同一区域的不同深度的若干剖析图像进行组合形成隔垫物的立体图像(三)有益效果本专利技术采用X射线成像原理对彩膜基板上的隔垫物进行检测，利用X射线荧光转换装置产生可见光，并生成灰度图像，对灰度图像进行识别处理，，能准确测量隔垫物的高度，并且可以检测隔垫物的内部及连接状态。X射线扫描时可以去除由Rubbing (摩擦)工序带来的静电，从而不需要单独的去除静电工序，提高了生产效率；而且可以附带检查基板内部由Rubbing工序带来的微裂痕。本专利技术既可以检测柱状隔垫物，也可以检测球状隔垫物。X射线检测设备相对简单而且检测条件要求低，速度快。【附图说明】图1为根据本专利技术实施例一的隔垫物检测装置的组成示意图；图2为根据本专利技术实施例二的隔垫物检测装置的组成示意图；图3为根据本专利技术实施例二的隔垫物检测装置的X射线成像单元的光学结构示意图；图4为根据本专利技术实施例三的隔垫物检测方法的流程图。【具体实施方式】下面结合附图及实施例对本专利技术进行详细说明如下。实施例一:本实施例提出了一种隔垫物检测装置，包括:X射线成像单元和图像处理单元，其中X射线成像单元包括X射线源和X射线敏感镜头；X射线源，用于产生透过带有隔垫物的基板的X射线；X射线敏感镜头，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；图像处理单元，利用灰度图像测量隔垫物的高度。在本实施例中，X射线源为X射线阵列源，X射线敏感镜头为X射线敏感CCD平板探测器。具体的，如图1所示，被X射线控制器(图中未示出)控制的X射线阵列源11发射X射线到带有隔垫物的基板I。X射线敏感C⑶平板探测器(Flat Panel Detector, FPD)21是一种间接获取图像的FPD，主要是由闪烁体或荧光体层加具有光电二极管作用的非晶硅层(amorphous Silicon, a-Si)再加TFT阵列构成的平板检测器组成。闪烁体或突光体层经X射线曝光后，可以将X射线光子转换为可见光，而后由具有光电二极管作用的非晶硅层变为图像电信号，经过TFT阵列获得数字图像。图像处理单元31例如可以为计算机，X射线敏感CXD平板探测器21采集到的数字灰度图像传送到图像处理单元31，图像处理单元31利用灰度图像测量隔垫物的高度，当然中间还存在模数转换等信号处理模块。在本实施例中，还可以包括光阑12，光阑12放置在带有隔垫物的基板I和X射线敏感CCD平板探测器21之间，用于调节通过的X射线的强弱，稳定X射线敏感CCD平板探测器21 (以下简称CXD或X射线(XD)接收的辐射剂量。在本实施例中，整个X射线成像单元的控制核心是PLC可编程逻辑控制器，负责各个部件协调工作。此外，PLC可编程逻辑控制器还用于与视频信号传输线接口芯片配合实现计算机和X射线成像单元的通信过程。该通信过程用来传递计算机发来的命令以及把图像传回到计算机。PLC可编程逻辑控制器例如包括两片低功耗CPLD (Complex Programmable LogicDevice)复杂可编程逻辑器件，以产生系统所需的各种时序。其中第一 CPLD主要用于产生帧存储器控制所需的地址和读写控制信号，第二 CPLD主要产生CCD需要的驱动时序。当然两片CPLD之间也有一些信号用于两者之间的通信。第二 CPLD产生的驱动时序波形需要经过驱动器后才可以加到X射线CCD上，驱动的目的主要是产生CCD所需的脉冲电平，同时能够提供一定的驱动电流。因为CCD的各个栅级节电容都较大，而且驱动工作频率也较高，为了提高电荷的转移效率以保证图像质量，驱动器必须要有足够的驱动能力。CCD的信号输出到模拟前端,模拟前端主要负责对X射线CCD输出的模拟信号进行处理。首先输出的模拟信号要经过前端跟随，然后经过电平搬移及低噪声放大电路，输出符合A/D转换器量化电平要求的信号。最后，信号进入A/D转换器内进行模数转换。模数转换后的数字图像信号，在CPLD的控制下暂存到帧存储器中。当计算机要获取图像时，PLC可编程逻辑控制器和视频信号传输线接口芯片负责把帧存储器中的图像数据通过USB总线传送到计算机。在本实施例中，使用计算机的图像处理软件来实现图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种隔垫物检测装置，其特征在于，包括：X射线成像单元和图像处理单元，其中X射线成像单元包括X射线源和X射线敏感镜头；X射线源，用于产生透过带有隔垫物的基板的X射线；X射线敏感镜头，接收透过基板的X射线并形成灰度图像；图像处理单元，利用灰度图像测量隔垫物的高度。

【技术特征摘要】
1.一种隔垫物检测装置，其特征在于，包括:X射线成像单元和图像处理单元，其中X射线成像单元包括X射线源和X射线敏感镜头； X射线源，用于产生透过带有隔垫物的基板的X射线； X射线敏感镜头，接收透过基板的X射线并形成灰度图像； 图像处理单元，利用灰度图像测量隔垫物的高度。2.权利要求1所述的隔垫物检测装置，其特征在于，X射线源和X射线敏感镜头关于基板位置相对，X射线源为X射线阵列源，X射线敏感镜头为X射线敏感平板探测器。3.权利要求2所述的隔垫物检测装置，其特征在于，X射线敏感镜头与基板之间设置有光阑。4.权利要求1所述的隔垫物检测装置，其特征在于，所述X射线成像单元为两个，关于基板位置相对，其中任一个的X射线成像单元的X射线敏感镜头接收另一个X射线成像单元的X射线源透过基板的X射线，形成灰度图像。5.权利要求4所述的隔垫物检测装置，其特征在于，所述两个X射线成像单元可以在圆弧轨道上移动，使得X射线入射基板的角度改变。6.一种隔垫物检测方法，其特征在于，包括: 产生透过带有隔垫物的基板的X...

【专利技术属性】
技术研发人员：井杨坤，李桂，张宏远，刘卫卫，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司， 京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34