显示装置制造方法及图纸

技术编号:9840269 阅读:120 留言:0更新日期:2014-04-02 03:31
本发明专利技术提供一种可靠性得到提高的显示装置。或者,本发明专利技术提供一种边框的扩大得到抑制的显示装置。上述显示装置包括:对置的第一衬底及第二衬底;设置在第一衬底与第二衬底之间的具有显示元件的像素部;以围绕像素部的外周的方式设置的第一密封件;与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方接触且填充在第一衬底与第二衬底之间的间隙中的第二密封件;以及隔着第二密封件与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方及第一密封件的侧面重叠的第三密封件。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种可靠性得到提高的显示装置。或者,本专利技术提供一种边框的扩大得到抑制的显示装置。上述显示装置包括:对置的第一衬底及第二衬底;设置在第一衬底与第二衬底之间的具有显示元件的像素部;以围绕像素部的外周的方式设置的第一密封件;与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方接触且填充在第一衬底与第二衬底之间的间隙中的第二密封件;以及隔着第二密封件与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方及第一密封件的侧面重叠的第三密封件。【专利说明】显示装置
本专利技术涉及一种显示装置及其制造方法。
技术介绍
近年来,已在进行关于显示装置的高性能化诸如低耗电量化或高清晰化的技术开发。作为上述显示装置,例如可以举出液晶显示装置或电致发光显示装置(也称为EL显示装置)等。作为用来驱动上述显示装置所具有的显示元件(液晶元件、EL元件等)的晶体管的例子,可以举出将硅半导体用于沟道形成区的晶体管、将金属氧化物半导体用于沟道形成区的晶体管等。例如,专利文献I所示的显示装置是具有将金属氧化物半导体用于沟道形成区的晶体管以作为驱动显示元件的晶体管的显示装置的一个例子。日本专利申请公开2011-44699号公报但是,现有的显示装置有可靠性不够的问题。例如,在现有的显示装置中,在两个衬底之间设置显示元件,并且,以围绕该显示元件的方式在两个衬底之间设置密封件,贴合两个衬底,由此密封显示元件。然而,如果水等经由密封件从外部侵入到被密封的区域中,则显示元件或用来驱动该显示元件的晶体管的特性恶化,容易产生误动作。另外,在显示装置中,在上述两个衬底重叠的区域中,包括与密封件重叠的区域的显示部之外的区域(也称为边框)优选为窄。如果边框宽,则例如显示部所占的面积变小。再者,当作为显示元件使用EL元件时,有从外部侵入的水分或氧等杂质导致可靠性降低的问题。
技术实现思路
鉴于上述问题,本专利技术的一个方式的目的之一是提供一种可靠性得到提高的显示装置。或者,本专利技术的一个方式的目的之一是提供一种边框的扩大得到抑制的显示装置。本专利技术的一个方式解决上述课题中的至少一个。根据本专利技术的一个方式的显示装置包括:对置的第一衬底及第二衬底;设置在第一衬底与第二衬底之间的具有显示元件的像素部;以围绕像素部的外周的方式设置的第一密封件;以及与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方接触且填充在第一衬底与第二衬底之间的间隙中的第二密封件。在上述结构中,优选的是,第二密封件的透湿性低于第一密封件的透湿性。在上述结构中,优选的是,第一密封件为树脂层,第二密封件为金属层。根据本专利技术的一个方式的显示装置包括:对置的第一衬底及第二衬底;设置在第一衬底与第二衬底之间的具有显示元件的像素部;以围绕像素部的外周的方式设置的第一密封件;与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方接触且填充在第一衬底与第二衬底之间的间隙中的第二密封件;以及隔着第二密封件与第一衬底和第二衬底的侧面的至少一方及第一密封件的侧面重叠的第三密封件。在上述结构中,优选的是,第三密封件的透湿性低于第一密封件及第二密封件的透湿性。另外,第三密封件优选为金属层或热可塑性树脂。在上述结构中,显示元件优选为有机EL元件。在上述结构中,优选的是,像素部具有晶体管,晶体管具有形成沟道的氧化物半导体层。本专利技术的一个方式可以提供一种可靠性高的显示装置。另外,本专利技术的一个方式可以提供一种边框的扩大得到抑制的显示装置。【专利附图】【附图说明】图1A和图1B是显示装置的俯视图及剖视图; 图2A和图2B是显示装置的俯视图及剖视图; 图3A至图3C是显示装置的剖视图; 图4A1和图4A2、图4B1和图4B2以及图4C1和图4C2是示出显示装置的制造工序的俯视图及剖视图; 图5A1和图5A2、图5B1和图5B2以及图5C1和图5C2是示出显示装置的制造工序的俯视图及剖视图; 图6A和图6B是发光显示装置的俯视图及剖视图; 图7A至图7C是示出EL层的图; 图8A至图8D是示出电子设备的图; 图9A至图9C是示出电子设备的图。【具体实施方式】下面,参照附图对实施方式进行详细说明。但是,本专利技术不局限于以下说明,所属
的普通技术人员可以很容易地理解一个事实就是其方式及详细内容在不脱离本专利技术的宗旨及其范围的情况下可以被变换为各种各样的形式。因此,本专利技术不应该被解释为仅局限在以下所示的实施方式所记载的内容中。另外,在以下说明的专利技术的结构中,在不同的附图之间共同使用相同的附图标记来表示相同的部分或具有相同功能的部分,而省略其重复说明。(实施方式I) 在本实施方式中,参照图1A至图3C对根据本专利技术的一个方式的显示装置进行说明。在本说明书等中,显示装置是指发光显示装置、液晶显示装置或使用电泳元件的显示装置。发光显示装置包括发光元件,液晶显示装置包括液晶元件。发光元件在其范畴内包括由电流或电压控制亮度的元件,具体而言包括无机EL元件、有机EL元件等。图1A和图1B示出根据本专利技术的一个方式的显示装置。图1A是显示装置的俯视图,图1B是沿着图1A中的点划线A1-A2的剖视图。如图1A所示,显示装置包括:设置在对置的第一衬底101与第二衬底104之间的具有显示元件的像素部102 ;驱动电路部103a、103b ;以围绕像素部102及驱动电路部103a、103b的外周的方式设置的第一密封件105 ;以及与第一衬底101和第二衬底104的侧面的至少一方接触且填充在第一衬底101与第二衬底104之间的间隙中的第二密封件106。另外,也包括由第一衬底101、第二衬底104和第一密封件105围绕的空间110。由于水等杂质的混入导致像素部102所具有的显示元件劣化。当作为显示元件使用有机EL元件时,由于水等混入到构成有机EL元件的有机化合物或金属材料中,有机EL元件的寿命大幅度地降低。这是因为用于有机EL元件的有机化合物或金属材料与水等杂质起反应而发生劣化的缘故。另外,在控制显示元件的晶体管或驱动电路部103a、103b所具有的晶体管中,有时也会由于杂质混入到半导体层中而导致电特性发生变动。例如,当作为形成晶体管的沟道的半导体层使用氧化物半导体层时,当杂质混入到该氧化物半导体层中时,有时会发生电特性的变动。这成为降低显示装置的可靠性的原因。于是,如图1A和图1B所示,除了用来贴合第一衬底101和第二衬底104的第一密封件105之外,还设置与第一衬底101的侧面和第二衬底104的侧面的至少一方接触且填充在第一衬底101与第二衬底104之间的间隙中的第二密封件106。第一密封件105和第二密封件106中的至少一方的透湿性优选为低。另外,更优选的是,第二密封件106的透湿性低于第一密封件105的透湿性。通过将透湿性低的材料用于第一密封件105和第二密封件106中的至少一方,从而可以抑制作为杂质的物质(水等)通过第一密封件105及第二密封件106侵入到显示元件或晶体管中。由此,可以提高显示装置的可靠性。在此,透湿性是指每一天透过单位面积(Im2)的薄膜等的材料的水的质量(单位为g/m2.天)。通过降低透湿性,从而可以防止或抑制来自外部的水或水分等杂质的侵入。上述透湿性可以通过被称为MOCON法或杯法的透湿性测试算出。MOCON法是指利用红外线传感器测定透过作为测定对象的材本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种显示装置,包括:彼此对置的第一衬底和第二衬底;包括显示元件的像素部,该像素部位于所述第一衬底与所述第二衬底之间;以围绕所述像素部的外周的方式设置的第一密封件;以及与所述第一衬底的侧面和所述第二衬底的侧面中的至少一方接触的第二密封件,该第二密封件填充所述第一衬底与所述第二衬底之间的间隙。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:山崎舜平平形吉晴西毅
申请(专利权)人:株式会社半导体能源研究所
类型:发明
国别省市:日本;JP

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