本发明专利技术公开的二硫化钼-硒化镉量子点混合场效应光晶体管自下而上依次有Si层和SiO2层的Si/SiO2复合晶片、n层二硫化钼层，n=1-4、两块在同一水平面上彼此相隔的金电极、在两块金电极之间有CdSe量子点层，CdSe量子点层中的CdSe量子点的直径为3-8nm。其制造步骤包括：将用胶带从二硫化钼晶体上剥离的二硫化钼层黏贴到清洗干净的Si/SiO2复合晶片上；在二硫化钼层上旋涂聚甲基丙烯酸甲酯，用电子束曝光法在涂层上刻蚀出金电极；用电子束蒸发方法在电极上依次沉积Ni和Au作为源极和漏极，制备CdSe量子点溶液；将CdSe量子点溶液涂覆到二块金电极之间的二硫化钼层上。本发明专利技术为场效应光晶体管提供了一种新品种。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开的二硫化钼-硒化镉量子点混合场效应光晶体管自下而上依次有Si层和SiO2层的Si/SiO2复合晶片、n层二硫化钼层，n=1-4、两块在同一水平面上彼此相隔的金电极、在两块金电极之间有CdSe量子点层，CdSe量子点层中的CdSe量子点的直径为3-8nm。其制造步骤包括：将用胶带从二硫化钼晶体上剥离的二硫化钼层黏贴到清洗干净的Si/SiO2复合晶片上；在二硫化钼层上旋涂聚甲基丙烯酸甲酯，用电子束曝光法在涂层上刻蚀出金电极；用电子束蒸发方法在电极上依次沉积Ni和Au作为源极和漏极，制备CdSe量子点溶液；将CdSe量子点溶液涂覆到二块金电极之间的二硫化钼层上。本专利技术为场效应光晶体管提供了一种新品种。【专利说明】—种二硫化纟目-砸化镉量子点混合场效应光晶体管及其制造方法
本专利技术涉及一种场效应光晶体管及其制造方法，尤其是二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管及其制造方法。
技术介绍
光晶体管是由双极型晶体管或场效应晶体管等三端器件构成的光电器件。光在这类器件的有源区内被吸收，产生光生载流子，通过内部电放大机构，产生光电流增益，光晶体管三端工作，故容易实现电控或电同步。光晶体管所用材料通常是砷化镓(CaAs)，主要分为双极型光晶体管、场效应光晶体管及其相关器件。双极型光晶体管通常增益很高，对于GaAs-GaAlAs,放大系数可大于1000，响应时间大于纳秒，常用于光探测器，也可用于光放大。场效应光晶体管响应速度快(约为50皮秒)，常用作极高速光探测器。与此相关还有许多其他平面型光电器件，其特点均是速度快(响应时间几十皮秒)、适于集成。目前，在光探测领域最新的研究成果是基于量子点调控的光晶体管。这种光晶体管可以提供比较高的光增益，并且有比较小的暗电流。据报道，有铝掺杂的氧化锌(AZO)和PbS量子点的光晶体管混合结构对红外光的吸收强烈，可以用于红外波段光电探测器的制作；基于石墨烯-PbS量子点混合而得到的光电MOS管，具有IO8电子/光子的量子效率和IOVff的高灵敏度，最低可探测10_15 W的光强；而单壁碳纳米管与量子点的混合光晶体管结构增强了光的斯塔效应。对量子点混合结构光晶体管的研究具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术的目的是为光探测领域提供一种使用半导体材料二硫化钥而构建的二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应晶体管其制造方法，为场效应光晶体管提供一种新品种。本专利技术的二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管，自下而上依次有Si层和SiO2层的Si/Si02复合晶片、n层二硫化钥层，n=l-4、两块在同一水平面上彼此相隔的金电极、在两块金电极之间有CdSe量子点层，CdSe量子点层中的CdSe量子点的直径为3_8nm。通常，Si/Si02复合晶片的SiO2层的厚度为30-300nm，Si层厚度为200 u m。CdSe量子点层的厚度为10-600nm。本专利技术的二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管的制造方法，包括如下步骤: 1)使用微机械力方法，用胶带从二硫化钥晶体上剥离n层二硫化钥，n=l-4，再将二硫化钥黏贴到清洗干净的Si/Si02复合晶片的SiO2层上； 2)在二硫化钥层上旋涂质量浓度1%_10%的聚甲基丙烯酸甲酯，采用电子束曝光法在聚甲基丙烯酸甲酯涂层上刻蚀出金电极图形； 3)采用电子束蒸发方法，在刻蚀的金电极图形上依次沉积5nmNi和20_100nmAu,作为场效应光晶体管的源极和漏极； 4)将丙烯酸羟丙酯充分溶解于氧化三辛基膦中，得到氧化三辛基膦丙烯酸羟丙酯混合溶液，混合溶液中丙烯酸羟丙酯的质量浓度为8% ;将Se、Cd(CH3)2和三丁基膦按质量比1:2:38混合，得到储备液，将0.5-2ml储备液倒入加热至360°C的2_4g上述氧化三辛基膦丙烯酸羟丙酯混合溶液中，保持360°C温度不变，反应0.1-1小时，自然冷却至室温，得到CdSe量子点溶液； 5)采用旋涂的方法将步骤4)制得的CdSe量子点溶液涂覆到二块金电极之间的二硫化钥层上，得到二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管； 本专利技术制备过程中，清洗Si/Si02复合晶片可以是先依次用去离子水、丙酮和异丙醇清洗，然后再用O2:Ar=l:l的混合等离子气体清洗； 上述步骤2)的电子束曝光刻蚀的曝光时间为l-2s、显影时间40s-lmin。步骤3)的电子束蒸发过程中，气压控制在5 X KT3Pa以下；二硫化钥具有二维晶体结构，表面平整，是一种类似于石墨烯结构的半导体，其禁带宽度为1.87eV。利用二硫化钥和CdSe量子点混合，可以制造出二硫化钥场效应晶体管结构；本专利技术的二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管中二硫化钥层受到Si背栅电极的调控，利用光致激发CdSe量子点而构建成场效应晶体管。本专利技术为场效应光晶体管提供了一种新品种。【专利附图】【附图说明】图1为二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管的结构示意图； 图2为二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管的俯视图； 图3为二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应晶体管栅极电压与漏极电流的关系； 图4为二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应晶体管在不同栅压下漏极电流与漏极电压的关系。【具体实施方式】以下结合附图进一步说明本专利技术。参照图1、图2，本专利技术的二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管自下而上依次有Si层I和SiO2层2的Si/Si02复合晶片、η层二硫化钥层3，η=1_4、两块在同一水平面上彼此相隔的金电极4、在两块金电极4之间有CdSe量子点层5，CdSe量子点层5中的CdSe量子点的直径为3-8nm。实施例1: 1)将Si/Si02复合晶片依次用去离子水、丙酮和异丙醇清洗，然后再用O2=Ar=1:1的混合等离子气体清洗；用胶带从二硫化钥晶体上剥离单层二硫化钥黏贴到清洗干净的Si/SiO2晶片的SiO2层上，其中SiO2层厚度250nm ； 2)在二硫化钥上旋涂质量浓度10%的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)，采用电子束曝光法在聚甲基丙烯酸甲酯涂层上刻蚀出金电极图形，电子束曝光刻蚀的曝光时间为2s、显影时间40s ； 3)采用电子束蒸发方法，在刻蚀的金电极图形上依次沉积5nmNi和20nmAu,电子束蒸发过程中，气压控制在5 X 10_3Pa ； 4)将丙烯酸羟丙酯充分溶解于氧化三辛基膦中，得到氧化三辛基膦丙烯酸羟丙酯混合溶液，混合溶液中丙烯酸羟丙酯的质量浓度为8% ;将Se、Cd(CH3)2和三丁基膦按质量比1:2:38混合，得到储备液，将Iml储备液倒入加热至360°C的3g上述氧化三辛基膦丙烯酸羟丙酯混合溶液中，保持360°C温度不变，反应0.3小时，自然冷却至室温，得到CdSe量子点液，CdSe量子点直径为5nm ； 5)采用旋涂的方法将步骤4)制得的CdSe量子点层涂覆到二块金电极之间的单层二硫化钥上，CdSe量子点层涂覆厚550nm，得到二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应光晶体管。本例的二硫化钥-硒化镉量子点混合场效应晶体管在波长532nm (Nd3+YAG倍频激光器)，功率1.7pw的绿色激光激发下栅极电压与漏极电流的关系见图3。不同栅压下漏极电流与漏极电压的关系见图4。实施例2: 1)将Si/Si02复合本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种二硫化钼‑硒化镉量子点混合场效应光晶体管，其特征在于自下而上依次有Si层（1）和SiO2层（2）的Si/SiO2复合晶片、n层二硫化钼层（3），n=1‑4、两块在同一水平面上彼此相隔的金电极（4）、在两块金电极（4）之间有CdSe量子点层（5），CdSe量子点层（5）中的CdSe量子点的直径为3‑8nm。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林时胜，李文渊，张金石，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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