挂面的裂纹发生预测装置和分类系统制造方法及图纸

挂面的裂纹发生预测装置具备：向挂面照射偏振光的光源部；根据相对于从光源部照射的偏振光的挂面的透过光，获得挂面的相位差像的拍摄部；以及，根据在拍摄部获得的相位差像测量挂面具有的双折射相位差量，并根据所测量的双折射相位差量来评价挂面内的残留应力，预测挂面中是否产生裂纹的预测部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】挂面的裂纹发生预测装置和分类系统
本专利技术涉及挂面的裂纹发生预测装置，特别涉及预测细面条等挂面中裂纹的产生的装置。另外，本专利技术也涉及对裂纹的产生被预测后的挂面进行分类的挂面分类系统。
技术介绍
一般，细面条等挂面是通过使用形成有喷嘴孔的模具将面材料挤出成形后，使其干燥而被制造的，喷嘴孔的形状与挂面的截面形状对应。这些挂面虽然具有对应于不同种类的形状、色彩等，但在生产线上大量制造挂面时，因各种因素，有时会产生形状不良、颜色不均匀等的缺陷品。因此，为了提高从制造工厂出厂的制品的质量，使用对所制造的挂面的外观进行检查的装置。例如，专利文献I公开一种通过获得方便面的彩色图像来检查形状异常、色彩异常的检查装置，专利文献2公开一种利用CCD照相机拍摄细面条来检查产生色彩异常的细面条的装置。专利文献专利文献1:日本特开2003-35675号公报专利文献2:日本特开2005-324101号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题如专利文献1、2所记载，通过获得挂面的光学图像，能够从所制造的挂面检测出外观出现异常的挂面。然而，众所周知存在这样的挂面，即尽管在刚制造后的外观上未发现任何异常，但随着时间的经过而在轴向上产生裂纹。产生这样的裂纹的挂面虽然损害制品的外观，但由于在刚制造后的挂面上尚未产生裂纹，即使将专利文献1、2公开的装置连接在生产线上进行外观检查，也不能发现裂纹。本专利技术为了解决上述问题而成，其目的在于提供一种挂面的裂纹发生预测装置，该装置能够事先预测挂面中裂纹的产生。另外，本专利技术的目的在于提供一种对用这种裂纹发生预测装置预测产生裂纹的挂面进行分类的挂面分类系统。用于解决问题的手段本专利技术涉及的挂面的裂纹发生预测装置具备:向挂面照射偏振光的光源部；根据相对于从光源部照射的偏振光的挂面的透过光，获得挂面的相位差像的拍摄部；以及根据在拍摄部获得的相位差像测量挂面具有的双折射相位差量，并根据所测量的双折射相位差量来评价挂面内的残留应力，预测挂面中是否产生裂纹的预测部。优选地,光源部包含齒素灯；将来自齒素灯的光转换为圆偏振光的圆偏振光滤光器；以及用于将被圆偏振光滤光器转换后的圆偏振光向挂面聚光的聚光透镜。拍摄部包含将来自挂面的光转换为平行光的物镜；从被物镜转换后的平行光解析椭圆偏振光的椭圆偏振光解析器；和利用透过椭圆偏振光解析器的光，获得挂面的相位差像的CXD照相机。另外，预测部根据所测量的双折射相位差量来计算挂面的轴向残留应力，当计算出的残留应力超过规定阈值的情况下，能够预测在挂面内产生裂纹。本专利技术涉及的挂面的分类系统具备搬送挂面的搬送部；预测被搬送部搬送的挂面中是否产生裂纹的所述裂纹发生预测装置；和对被裂纹发生预测装置预测裂纹的产生后的挂面从搬送部进行分类的分类部。专利技术的效果根据本专利技术，由于拍摄部获得挂面的相位差像，预测部根据该相位差像来测量挂面具有的双折射相位差量，并根据双折射相位差量来评价挂面内的残留应力，所以能够事先预测挂面中是否产生裂纹。【附图说明】图1是显示本专利技术实施方式I涉及的挂面的裂纹发生预测装置的构成的框图。图2是|旲式地显不残留应力和双折射的关系的图。图3A是表示即使时间经过也未产生裂纹的细面条的相位差像的照片。图3B是表示即使时间经过也未产生裂纹的细面条的光学显微镜像的照片。图4A是表示随着时间的经过，产生了裂纹的细面条的相位差像的照片。图4B是表示随着时间的经过，产生了裂纹的细面条的光学显微镜像的照片。图5是显示实施方式2涉及的挂面的分类系统的构成的框图。附图标记I光源部2拍摄部3预测部4齒素灯5圆偏振光滤光器6聚光透镜7物镜8椭圆偏振光解析器9CXD照相机11搬送传送机12搬送传送机驱动部13送料器14斜槽15排出传送机16排出传送机驱动部17斜槽驱动部18回收部19控制部S试样【具体实施方式】以下，根据附图所示的最佳实施方式，来详细说明本专利技术。实施方式I图1显示本专利技术实施方式I涉及的挂面的裂纹发生预测装置的构成。裂纹发生预测装置具有与由挂面构成的试样S对向配置的光源部1，拍摄部2以与光源部I对向并夹持试样S的方式配置。此外，预测部3与拍摄部2连接。光源部I是向试样S照射圆偏振光的部件,具有齒素灯4、将齒素灯4发出的光转换为圆偏振光的圆偏振光滤光器5、和用于将被圆偏振光滤光器5转换的圆偏振光向试样S聚光的聚光透镜6。圆偏振光滤光器5可以通过将干涉过滤器、起偏振镜和I / 4波长板按顺序配置在光轴上而形成。另外，拍摄部2是根据相对于从光源部I照射的圆偏振光的试样S的透过光来获得试样S的相位差像的部件，并具有将透过试样S的光转换为平行光的物镜7、用于从被物镜7转换的平行光解析椭圆偏振光的椭圆偏振光解析器8、和利用透过椭圆偏振光解析器8的光来获得试样S的相位差像的CCD照相机9。椭圆偏振光解析器8由配置在光轴上的液晶光学兀件和检偏镜构成。预测部3根据由拍摄部2获得的相位差像来测量试样S具有的双折射相位差量，根据所测量的双折射相位差量来评价试样S内的残留应力，预测试样S内是否产生裂纹。本专利技术人等将各种实验和研究重叠后的结果如图2所示，在从形成在模具上的喷嘴孔将面材料挤出成形来制造细面条等挂面时，作用在挂面上的轴向应力作为残留应力而残存在挂面内，当该残留应力增大至规定量以上时，发现随着时间的经过，会高概率的产生裂纹。众所周知，通常情况下，光学上各向同性的物质当在一个方向上承受应力时，出现双折射性，在施加了应力的方向上具有振动成分的光速变低。因此，如图2所示，当使在轴向上具有直角振动面的偏振光PI和具有轴向振动面的偏振光P2向具有轴向残留应力的挂面入射时，对应于残留应力的大小，挂面内的偏振光P2的传递速度比偏振光Pl的传递速度低，在透过挂面的偏振光Pl和偏振光P2之间产生相位差。因此，本专利技术人等像该实施方式I涉及的裂纹发生预测装置那样，通过从光源部I向试样S照射圆偏振光，用拍摄部2对透过试样S后的椭圆偏振光进行解析来获得相位差像，在预测部3根据相位差像来测量试样S具有的双折射相位差量，评价试样S内的残留应力的大小，能够预测之后是否产生裂纹。接下来，对图1所示挂面的裂纹发生预测装置的动作进行说明。首先，光源部I的齒素灯4产生的光被圆偏振光滤光器5转换为圆偏振光,并被聚光透镜6聚光，向试样S照射。通过试样S的光被物镜7转换为平行光后,通过椭圆偏振光解析器8到达CXD照相机9。由此，对起因于试样S的双折射性且透过试样S时产生的相位差对照转换后的相位差像被CXD照相机9获得。该相位差像的数据从CXD照相机9向预测部3输送，在预测部3，根据相位差像的数据测量试样S具有的双折射相位差量，并根据所测量的双折射相位差量来评价试样S内的残留应力的大小。此外，在预测部3，所评价的残留应力的大小与预先设定的规定阈值进行比较，在残留应力的大小为规定阈值以下的情况下，预测在试样S内不产生裂纹，另一方面，在残留应力的大小超过规定阈值的情况下，预测在试样S内产生裂纹。这里，就制造后经过了一定时间也未产生裂纹的细面条、和制造后产生裂纹的细面条组成的2个试样S，在图3A和图4A显示用拍摄部2分别获得的相位差像。图3A是显示未产生裂纹的细面条的相位差像，图3B显示为了参考而拍摄的光学显微镜像。在相位差像中，未看见产生双折射性本文档来自技高网...

【技术保护点】
挂面的裂纹发生预测装置，其特征在于，具备：向挂面照射偏振光的光源部；拍摄部，根据相对于从所述光源部照射的偏振光的所述挂面的透过光，获得所述挂面的相位差像；以及预测部，根据在所述拍摄部获得的相位差像测量所述挂面具有的双折射相位差量，并根据所测量的双折射相位差量来评价所述挂面内的残留应力，预测所述挂面中是否产生裂纹。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.06.22 JP 2011-1381001.挂面的裂纹发生预测装置，其特征在于，具备: 向挂面照射偏振光的光源部； 拍摄部，根据相对于从所述光源部照射的偏振光的所述挂面的透过光，获得所述挂面的相位差像；以及 预测部，根据在所述拍摄部获得的相位差像测量所述挂面具有的双折射相位差量，并根据所测量的双折射相位差量来评价所述挂面内的残留应力，预测所述挂面中是否产生裂纹。2.根据权利要求1所述的挂面的裂纹发生预测装置，其特征在于，所述光源部包含:卤素灯；将来自所述卤素灯的光转换为圆偏振光的圆偏振光滤光器；以及用于将被所述圆偏振光滤光器转换后的圆偏振光向所述挂面聚光的...

【专利技术属性】
技术研发人员：樋口雅弘，吉田智，
申请(专利权)人：日清制粉集团本社股份有限公司，
类型：
国别省市：