【技术实现步骤摘要】
一种探测器及漫透射比测量系统
本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种探测器及漫透射比测量系统。
技术介绍
随着材料学科的快速发展，对光学材料漫透射特性，即漫透射比，的高精度测量提出了很高的要求。目前公知的材料漫透射比的测量一般是采用积分球法进行，即在一空心球体内安置一小探测器。这种方法要求材料的漫透射特性在空间任意方向上要尽可能均匀，否则极有可能在积分球内部产生局域亮斑，局域亮斑产生的位置若直接和探测器位置重合或接近，会导致信号偏高，从而会造成较大的测量误差，甚至会出现测量得到的漫透射比大于I的情况。该特性在测量微尺度较大的压花玻璃时尤为明显，由于这些局域亮斑的位置和材料密切相关，因此，即使通过在积分球内部安装挡屏的方法或者用多积分球串联法亦无法有效避免，测量准确度一直受制于被测材料。
技术实现思路
本专利技术提供了一种探测器及漫透射比测量系统，测量的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。本专利技术提供了一种探测器，应用于漫透射比测量系统中，所述漫透射比测量系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置，所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。优选的，所述探测器上开设有一个缺口，在进行测量时，该缺口被被检测样品覆至JHL ο优选的，所述电控系统还用于监控所述漫透射比测量系统中电流电压的稳定程度。优选的，所述电控系统还用于控制分光系统的运行。优选的，所述电控系统还用于将探测器输出的电流进行放大并实现AD转换。本专利技术还提供了一种漫透射比测量系统...
【技术保护点】
一种探测器，其特征在于，应用于漫透射比测量系统中，所述系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置，所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。
【技术特征摘要】
1.一种探测器，其特征在于，应用于漫透射比测量系统中，所述系统包括所述探测器、光源系统、分光系统和电控装置，所述电控系统与所述探测器、光源系统、分光系统相连并提供电源，所述探测器为圆形，且所述探测器的内表面被光电探测器完全覆盖。2.如权利要求1所述的探测器，其特征在于，所述探测器上开设有一个缺口，在进行测量时，该缺口被被检测样品覆盖。3.如权利要求1所述的探测器，其特征在于，所述电控系统还用于监控所述漫透射比测...
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