一种测量花纱特征的方法技术

本发明专利技术公开了一种测量花纱特征的方法，包括，延花纱的纵轴方向扫描花纱的至少一个特征；处理扫描后得到的值并且；输出处理的结果；所述处理过程包括扫描值的平滑或理想化；所述的处理包括将平滑或理想化的扫描值与原扫描值联系起来；所述平滑或理想化扫描值和所述的联系取得的数据，分别单独进行处理，一方面获取竹节信息，另一方面取得虚拟基纱的信息，将平滑或理想化得到的值与原始数据联系起来以得到竹节和基纱的信息。

【技术实现步骤摘要】
ー种测量花纱特征的方法
本专利技术涉及，具体涉及ー种适用于例如纺纱或绕线工作中纤维实验室或生产线应用的測量花纱特征的方法。
技术介绍
花纱是指那些结构或含量不同于正常平滑纱线的纱线。它经常出现在于织造产品及针织产品中。花纱往往出现多种粗细不均的地方，即所谓竹节，其直径比所谓的基纱显著的増大或縮小。故意制作的没有基纱的厚度变化纱线也算花纱的ー种。日益普及的花纱应用要求可靠和有意义的测量方法。往往需要测量的花纱变量有很多，例如基纱的直径，竹节的直径，竹节数量，竹节长度，竹节距离等等。这些变量可以用于控制现有花纱的质量，也可以用来决定制造花纱时哪些数据是必要的。目前众所周知的测量纱线特征的方法和装置通常是在纵向采用电容和/或光学扫描的方式測量纱线。电容式扫描提供了一个表征纱线质量的信号，而光学扫描提供了一个与纱线直径成比例的信号。扫描信号可以采用模拟或数字信号的方式，可以同时输出ー个或者几个这样的测量結果。例如，专利公开文献EP-0578975A1和EP-0249741A2就公开了测量的纱线特征的类似方法和装置。以上的这些纱线的测量系统都是由 申请人:提出，并在全世界受到知识产权保护的。为了获取纱线颜色，即纱线对光谱的反射特性。如据W0-2004/044579所述的适用于照明纱线的多种有色光源。纱线所反射的光线分别在至少两个不同光谱范围被探測。基于前述至少两个检测信号的信息来确定纱线颜色。同时采用不同波长扫描纺织材料的光学方法，也可以从CH674379或DE-19859274号专利中得知。W0-2005/071150A1, W0-2005/038105A1 和 W0-2005/037699A1 号专利特别针对花纱，以上文件的要点归纳如下:确定基纱的直径:首先，在ー个较大的长度范围内来计算纱线直径的算木平均值。这样就减轻了个别数据对纱线直径的影响。该算术平均值一切负值结合已测到的相邻的其他负值共同定义为基纱的直径。确定竹节的始端，末端和长度:如果在一定的纱线长度内，一个极限直径持续的超过基纱的直径则该位置定义为竹节始端。如果前述极限直径減少并且这种减少持续了一定长度，定义为竹节末端；竹节长度是指竹节始端和末端之间的距离。确定竹节的直径:在一个竹节内所存在一定数量的最大直径定义为竹节的直径。最大直径的平均值定义为竹节直径。虽然以上描述花纱特征的方法十分有用，但也有几个缺点。测量的结果包含大量的数据，这些数据不明确且难以处理，难以甄别合适的具有明显代表性的数据。前述方法，当基纱直径过大而竹节长度是过小时缺点尤其明显。
技术实现思路
本专利技术提供了一种减少数据数量的测量花纱特征的方法。本专利技术可以单独采集并输出竹节和基纱的相关信息。此外，该专利技术可以改善花纱特征的视觉感知效果。本专利技术所述的测量花纱特征的方法，其中的花纱包含一系列竹节和基纱。包括，沿花纱的纵轴方向扫描花纱的至少一个特征；处理扫描后得到的值并且；输出处理的结果；这些花纱参数例如基纱质量，基纱直径，竹节距离，竹节质量增加值，竹节直径增加值，竹节直径，竹节长度和/或竹节数量。所述处理过程包括扫描值的平滑或理想化。处理包括将平滑或理想化得到的值与原始数据联系起来，即进行比较。平滑或理想化得到的值分别处理，以得到竹节和基纱的信息。这种具体数据理想化曲线的过程中发生的数据量会大大减少。【附图说明】下面结合附图和【具体实施方式】对本专利技术作进一步详细说明。图1是进行该方法而使用的设备示意图；图2是一个在纵向上花纱质量读数的例子的示意图；图3是图2所示信号的频数分布H(M)示意图；图4是图2局部放大图；图5-15是纱线可能输出数据的各个类型示意图；图16是双层竹节实施例的示意图；图17是一个可行的多层花纱测量方式示意图；图18是花纱一系列数据的谱图；图19是将竹节读数平滑或理想化后进一步得到的图形；图20是有凹陷的竹节曲线示意图；图21是测量曲线下方区域的积分曲线；图22是每单位长度数值的处理曲线；其中图22 (a)展示的是原始曲线，图22 (b)是理想化的曲线，图22 (c)是从原始曲线中减去理想化曲线得到的曲线；图23是图22曲线的谱图，其中图23 (a)是原始读数的谱图，图23 (b)显示单个竹节的谱图，图23(c)显示虚拟基纱的谱图；图24是图22曲线的散点图，其中图24 (a)是原始读数的散点图，图24(b)显示单个竹节的散点图，图24(c)显示虚拟基纱的散点图。【具体实施方式】图1所示的是为进行该方法而使用的设备I。它包含一个扫描花纱9、基纱91和竹节92，92'的扫描单元2，花纱延X轴方向移动。在这里，“扫描”的意思就是对花纱9多处等距离的点进行读取，并形成连续的记录。这种扫描单元2本身是已知的，在此不再赘述。扫描单兀2可以含有电容,光学或其他传感器,也有若干相同或不同的传感器共同安排在扫描单元2内。扫描单元2可以提供初步的测量数据。这些电气信号可以表征花纱9的质量，厚度或其他特征，并通过第一数据线23输出。处理单元3与扫描单元2通过第一数据线23相连接，处理单元3用于处理从扫描单元2采集到的信号。为此，处理单元3包含了合适的模拟和/或数字处理部件，如一个微处理器。处理单元3也可以包含其他部件，如包括存储器存储数据。处理单元3最好采用计算机。此外，所述设备I包含输出单元4用于输出测量数据和/或处理结果。输出单元4通过第二数据线34与处理单元3相连接。输出单元4可以是显示器和/或打印机。该设备1，最好还包含能让用户端输入数据的输入单元5。输入单元5例如可以包括键盘、鼠标和/或触摸屏。图2显示了一个扫描单元2可能的输出信号100。因此，测一个变量，例如沿花纱9长度坐标轴X测量每单位长度花纱9 (见图1)上的质量M。这种质量M是典型由电容纱线传感器测得的。测量花纱9沿长度坐标X的厚度会有相似的显示，其中横坐标和纵坐标以及内容可能不同；厚度信号通常是由光学纱线传感器测得的。曲线M (X)不一定是连续的，可能是在花纱9上间隔几毫米的若干个(未显示在图2)扫描点组成的，所述间距取决于扫描单元2的扫描速率和花纱9的移动速度。信号M (X)有噪音底线101，噪音底线101相当于基纱质量Ms或基纱的直径。峰值102相对应的是竹节信号，峰值102显著的区别于噪音底线101。平均读数Mm是一大段纱线长度上包括峰值102在内的的读数M(X)的平均值，平均读数Mm大大高于噪音底线101，因此，Mm不适合衡量标准基纱质量Ms。在这里，应该指出的是，图2和随后进行的讨论仅仅代表一个可行的例子，该例子非限制性描述。在其他类型的花纱中，其不是唯一测定基纱的方式。根据本专利技术最好的测量基纱质量Ms的方法如下。首先确定图2所示被测数据M的频数分布H(M)。这种频数分布H (M)如图3所示，该频数分布必须在较长的纱线长度下确定，这里的纱线长度可以理解为可能含有一定数据的竹节，例如至少有10个，而且最好至少100个。一个花纱9的频数分布H (M)包括至少两个局部极大值121，122;第一个局部极大值121为基纱91，并至少存在一个第二局部极大值122为竹节92，92'，……根据此定义，包括所有局部极大值121，122中，表示基纱91的局部极大值121的M值最小。据此原因，在频数分布H本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量花纱（9）特征的方法，包括，延花纱（9）的纵轴方向（x）扫描花纱（9）的至少一个特征；处理扫描后得到的值并且；输出处理的结果；其特征在于，所述处理过程包括扫描值的平滑或理想化；所述的处理包括将平滑或理想化的扫描值与原扫描值联系起来；所述平滑或理想化扫描值和所述的联系取得的数据，分别单独进行处理，一方面获取竹节（102，102′）信息，另一方面取得虚拟基纱的信息。

【技术特征摘要】
2005.11.18 CH 1846/05;2005.12.23 CH 2059/05;2006.1.ー种测量花纱(9)特征的方法，包括， 延花纱(9)的纵轴方向(X)扫描花纱(9)的至少ー个特征； 处理扫描后得到的值并且； 输出处理的结果； 其特征在干， 所述处理过程包括扫描值的平滑或理想化； 所述的处理包括将平滑或理想化的扫描值与原扫描值联系起来； 所述平滑或理想化扫描值和所述的联系取得的数据，分别单独进行处理，一方面获取竹节(102，102')信息，另ー方面取得虚拟基纱的信息。2.如权利要求1所述的测量花纱特征的方法，其特征在于，所述的联系包括取差值或取商值。3.如权利要求1所述的测量花纱特征的方法，其特征在于，所述平滑或理想化包括将数据曲线取直。4.如权利要求3所述的测量花纱特征的方法，其特征在于，其中花纱(9)上竹节(92，92')的平滑或理想化曲线为梯形或三角形或四边形。5.如权利要求3或4所述的测量花纱特征的方法，其特征在于，其中花纱(9)上的竹节(91，91')水平延伸且水平各点都处于基纱质量(Ms)高度。6.如权利要求1所述的测·量花纱特征的方法，其特征在于，其中，所述处理包括过滤扫描值。7.如权利要求6所述的测量花纱特征的方法，其特征在于，所述花纱的缺陷和/或竹节的特征作为过滤的标准。8.如权利要求1所述的测量花纱特征的方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·梅克希内，G·皮特，S·艾德拉特普尔，
申请(专利权)人：乌斯特技术股份公司，
类型：发明
国别省市：