光学测量装置制造方法及图纸

技术编号:9666148 阅读:111 留言:0更新日期:2014-02-14 02:29
本发明专利技术提供一种光学测量装置,用于测量物体的表面特性,光学测量装置包含光学穿透模块、光学测量模块及数据处理模块。光学穿透模块设置于物体的前方并具有至少一光学系数。光学测量模块传送至少一光信号穿透光学穿透模块并射至物体的表面,且经表面反射后的至少一光信号穿透光学穿透模块而形成回馈信号,光学测量模块接收回馈信号。数据处理模块耦接于光学测量模块,其中数据处理模块根据回馈信号与至少一光学系数得到表面特性。

【技术实现步骤摘要】
光学测量装置
本专利技术是关于一种光学测量装置;具体而言,本专利技术是关于一种能够应用于具高反射性物体并降低测量误差的光学测量装置。
技术介绍
非破坏性检测(Nondestructive Testing, NDT)是以不破坏待测物为目的,通过声音、电波、磁力、光线等媒介(Medium)检测物体。此外,非破坏性检测具有不直接碰触待测物的优点,不仅应用于土木及精密产业,更受生医领域广泛使用。一般而言,非破坏性检测包含超音波检测、磁粒检测、红外线检测、雷达检测、光学检测或其他检测。实际上,部分检测方式仍不尽完善,像是媒介能量不足、准确度不高、检测范围有限等。在实际情况中,光学检测极具发展性,足以弥补上述缺点。此外,研发人员不断改良光学检测装置,期望提升检测品质,进而扩大测量领域。进一步而论,光学检测除具有非破坏性检测以及即时测量的优点外,更具备高精确度。具体而言,光学干涉检测是为现行常用方法,通过光程差特性以进行各种精密测量。然而,原用于生医检测的光学干涉检测装置用于工业领域时,因待测物具有高反射率、不易透光或完全不透光,往往提高测量的困难度,产生较大的测量误差。综合上述诸多因素,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测量装置,用于测量一物体的一表面特性,其特征在于,该光学测量装置包含:一光学穿透模块,设置于该物体的前方并具有至少一光学系数;一光学测量模块,传送至少一光信号穿透该光学穿透模块并射至该物体的一表面,且经该表面反射后的该至少一光信号穿透该光学穿透模块而形成一回馈信号,该光学测量模块接收该回馈信号;以及一数据处理模块,耦接于该光学测量模块,其中该数据处理模块根据该回馈信号与该至少一光学系数得到该表面特性。

【技术特征摘要】
2012.07.27 TW 1011272291.一种光学测量装置,用于测量一物体的一表面特性,其特征在于,该光学测量装置包含: 一光学穿透模块,设置于该物体的前方并具有至少一光学系数; 一光学测量模块,传送至少一光信号穿透该光学穿透模块并射至该物体的一表面,且经该表面反射后的该至少一光信号穿透该光学穿透模块而形成一回馈信号,该光学测量模块接收该回馈信号;以及 一数据处理模块,耦接于该光学测量模块,其中该数据处理模块根据该回馈信号与该至少一光学系数得到该表面特性。2.如权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,该光学测量装置进一步包含: 一控制模块,耦接于该数据处理模块与该光学穿透模块,根据该表面特性决定一测量模式。3.如权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,该光学穿透模块包含: 至少一光学层,该至少一光学层分别具有该至少一光学系数,且该控制模块根据该表面特性控制或调整该至少一光学层。4.如权利要求3所述的光学测量装置,其特征在于,该至少一光学层包含一流体光学层、一薄膜光学层、一胶体光学层、一固体光学层或其组合。5.如权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,该光学穿透模块的材料可选自亚克力、塑料、玻璃、硅胶、光阻材料及上述材料的任意组合。6.如权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,该...

【专利技术属性】
技术研发人员:王威颜孟新周忠诚
申请(专利权)人:明达医学科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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