【技术实现步骤摘要】
三维影像测量装置
本专利技术是有关于一种三维影像测量装置，且特别是有关于一种三维影像测量装置中的光学配置。
技术介绍
于印刷电路板制程中，二维自动光学检测机(AOI)的应用已相当成熟。通过单一或多个取像装置，配合三色角度光，二维检测技术可进行置件检测，借以管控置件品质。然而，近年来由于检测需求的提升，三维测量技术已渐渐被广泛接受，以取代传统二维自动光学检测技术或克服其限制及不足处。在测量待测物体件的三维形状的方法中，已知常见的测量方法如采用摩尔纹(Moire Pattern)投射，利用投影模块将条纹图案光线投射至待测物体件上，更进一步基于相位平移法，由待测物体件反射的影像而得到待测物体件的三维形状。根据相位平移法，先取得多个在条纹图案光线下的反射影像，并且在考虑条纹图案光线的形式及测量平面的高度情况下，所述反射影像可被分析以得知待测物体件的三维形状。
技术实现思路
为解决已知技术的问题，本专利技术的一目的是提供一种三维影像测量装置，其利用投影模块产生条纹图案光线并经由分光单元投射至待测物体上，并利用多个取像模块分别从待测物体的正上方与斜上方等不同方向或角度...
【技术保护点】
一种三维影像测量装置，其特征在于，包含：一测量平台，用以承载一待测物体；以及一可动光学头，位于该测量平台上方，该可动光学头包含：一分光单元，位于该测量平台上方；一投影模块，用以产生一条纹图案光线，该条纹图案光线经该分光单元投射至该待测物体；一取像模块，包含多个取像单元，所述多个取像单元位于该测量平台上方分别以不同方向或角度面向该待测物体，每一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射形成的一反射影像；以及一指示模块，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，该指示模块用以发射一对位光线至该待测物体上形成一对位标示；一三维计算模块，用以根据所述多个反射影像计算关于该待测...
【技术特征摘要】
1.一种三维影像测量装置，其特征在于，包含: 一测量平台，用以承载一待测物体；以及 一可动光学头，位于该测量平台上方，该可动光学头包含: 一分光单元，位于该测量平台上方； 一投影模块，用以产生一条纹图案光线，该条纹图案光线经该分光单元投射至该待测物体； 一取像模块，包含多个取像单元，所述多个取像单元位于该测量平台上方分别以不同方向或角度面向该待测物体，每一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射形成的一反射影像；以及 一指示模块，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，该指示模块用以发射一对位光线至该待测物体上形成一对位标示； 一三维计算模块，用以根据所述多个反射影像计算关于该待测物体的一三维影像；一移动模块，操作性连接该可动光学头，用以移动该可动光学头；以及一校正控制模块，用以根据所述多个反射影像中的该对位标示，并选择性驱动该移动模块以移动该可动光学头。2.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该取像模块是包含: 多个第一取像单元，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，每一所述第一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射的一斜向的反射影像；以及 一第二取像单元，该第二取像单元经该分光单元由铅直角度拍摄该待测物体，以产生该条纹图案光线下经该待测物体反射的一正向的反射影像。3.根据权利要求2所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该三维影像测量装置处于一三维测量模式，该三维计算模块用以根据所述斜向的反射影像计算关于该待测物体的该二维影像。4.根据权利要求2所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该三维影像测量装置处于一二维摄影模式，利用该第二取像单元产生该正向的反射影像作为该待测物体的一二维影像。5.根据权利要求2所述的三维影像测量装置，其特征在于，由该分光单元投射至该待测物体的该条纹图案光线具有一光轴，并且所述多个第一取像单元是环绕该光轴排列。6.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该投影模块包含: 一光源; 一光栅，位于该光源与该分光单元之间，用以将该光源产生的一光线转换为该条纹图案光线；以及 一光栅移动器，用以致动该光栅相对该光源侧向地移动，借以改变该条纹图案光线的一相位。7.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该投影模块包含: 一光源；以及 一光栅，位于该光源与该分光单元之间，用以将该光源产生的一光线转换为该条纹图案光线； 其中，该移动模块使该可动光学头相对该待测物体水平地移动，借以等效地改变该条纹图案光线投射在该待测物体上的一...
【专利技术属性】
技术研发人员：余良彬，林栋，温光溥，
申请(专利权)人：德律科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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