识别关注对象的特征及处理断层图像的方法和设备技术

本发明专利技术涉及识别关注对象的特征及处理断层图像的方法和设备。提供一种用于判断在断层图像中被测对象的特征的位置的方法和设备，该方法包括：在附加图像中确定关注对象的特征的特征点；基于检测到的特征点确定在附加图像中与特征相关的位置数据；以及在断层图像中识别关注对象的特征，其中，使用附加图像中的所确定的位置数据来引导识别。本发明专利技术还涉及一种计算机可读取的载体介质，其可以是非易失性的并且在由处理器执行的情况下配置计算机以执行该方法。

【技术实现步骤摘要】
识别关注对象的特征及处理断层图像的方法和设备
本专利技术涉及一种用于在使用光学相干断层成像(OCT)的摄像系统中确定被测对象的特征在断层图像中的位置的方法和设备。特别地，但非排他地，本专利技术涉及在光学断层图像数据获取、特别是OCT扫描期间检测在眼的特定层之间的边界以及检测诸如视盘(盲点)或者中央凹等的某些眼特有的特征。
技术介绍
光学相干断层成像(OCT)是一种用于进行能够提供组织结构的图像的高分辨率截面摄像的技术。OCT是一种确定样本在OCT光束的方向上的散射分布的干涉的方法。各个散射分布被称作轴向扫描、或者A扫描。跨结构的一系列A扫描使得能够对通过组织的前部或者后部的平面进行截面的重建。这称为B扫描。利用光学相干断层成像结果(结构数据)的层分割和特征识别(分割/特征)算法是大部分市售的 OCT 装置(例如 SOCT Copernicus, Optopol ；RS-3000, Nidek; 0CT-2000,Topcon; Cirrus HD-OCT, Carl Zeiss Meditec)提供的基本功能。分割/特征算法试图检测在特定层之间的边界以及检测诸如视盘(盲点)或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在断层图像中识别关注对象的特征的方法，所述方法包括：?在附加图像中确定所述关注对象的特征的特征点；?基于检测到的特征点确定所述附加图像中的与所述特征相关的位置数据；以及?在所述断层图像中识别所述关注对象的特征，其中，使用所确定的所述附加图像中的位置数据来引导所述识别。

【技术特征摘要】
2012.07.30 EP 12178557.01.一种用于在断层图像中识别关注对象的特征的方法，所述方法包括: -在附加图像中确定所述关注对象的特征的特征点； -基于检测到的特征点确定所述附加图像中的与所述特征相关的位置数据；以及 -在所述断层图像中识别所述关注对象的特征，其中，使用所确定的所述附加图像中的位置数据来引导所述识别。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述断层图像中的所述特征和所述附加图像中的所述特征是所述关注对象的相同特征。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述附加图像不是断层图像。4.根据权利要求1所述的方法，其中，引导所述识别包括校正所述特征的初始识别。5.根据权利要求1所述的方法，其中，引导所述识别包括使所述附加图像的所述位置数据与所述断层图像的位置数据匹配。6.根据权利要求5所述的方法，其中，引导所述识别还包括利用匹配后的位置数据来确定在所述断层图像中的如下关注区域，其中，要在该关注区域中搜索在所述断层图像中要识别的所述特征。7.根据权利要求5所述的方法，其中，通过利用图像匹配算法将所述附加图像与所述断层图像对齐，进行所述附加图像的所述位置数据与所述断层图像的位置数据的匹配。8.根据权利要求5所述的方法，其中，通过手动地将所述附加图像与所述断层图像对齐，进行所述附加图像的所述位 置数据与所述断层图像的位置数据的匹配。9.根据权利要求5所述的方法，其中，通过确定在所述附加图像与所述断层图像之间的关系、并且利用所确定的关系来将所述附加图像与所述断层图像对齐，进行所述附加图像的所述位置数据与所述断层图像的位置数据的匹配。10.根据权利要求5所述的方法，其中，通过确定在硬件组件之间的关系、并且利用所确定的关系来将所述附加图像与所述断层图像对齐，进行所述附加图像的所述位置数据与所述断层图像的位置数据的匹配。11.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述断层图像转换为二维图像。12.根据权利要求1所述的方法，其中，所述关注对象为眼，并...

【专利技术属性】
技术研发人员：L·品特尔，K·彼得罗夫斯基，M·波佩克，W·苏拉，K·左克夫斯基，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：