X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法技术

一种X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法，属于炼钢工业领域。本发明专利技术的目的是通过对内标钴粉和玻璃熔片的成分重新设定，从而解决现有玻片存在的不足的X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法。本发明专利技术首次用四硼酸锂-偏硼酸锂、三氧化二钴、硝酸锂、溴化锂制备内标钴粉；再用无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、试样、内标钴粉、硝酸锂、溴化锂制备玻璃熔片。本发明专利技术减少熔剂用量，降低检测成本。延长铂黄坩埚的使用时间，进一步降低检测成本。提高分析结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种，属于炼钢工业领域。本专利技术的目的是通过对内标钴粉和玻璃熔片的成分重新设定，从而解决现有玻片存在的不足的。本专利技术首次用四硼酸锂-偏硼酸锂、三氧化二钴、硝酸锂、溴化锂制备内标钴粉；再用无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、试样、内标钴粉、硝酸锂、溴化锂制备玻璃熔片。本专利技术减少熔剂用量，降低检测成本。延长铂黄坩埚的使用时间，进一步降低检测成本。提高分析结果的准确度。【专利说明】
本专利技术属于炼钢工业领域。
技术介绍
在钢铁工业分析中，铁矿石成分分析非常重要。在现在的日常生产中，常采用化学分析方法，但存在分析时间长、过程繁杂、人为误差大、精密度不高等问题。现有的X荧光光谱法测定铁矿石熔样时加入无水四硼酸锂6g，碳酸锂lg，试样0.7g，钴粉0.7g，加入氧化剂硝酸锂Iml (80g/L)，加入脱膜剂溴化锂Iml (220g/L)，置于钼黄坩埚中于高频熔样炉中1100°C熔融19分钟，制成钴玻璃片，用X荧光光谱仪测定铁矿石中TFe、Ca0、Mg0、Si02、Al203、P、Mn0、TiO2等元素,加入铁的内标元素钴。存在缺点: 1、使用无水四硼酸锂和碳酸锂熔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X荧光光谱法测定铁矿石的检测试剂及方法，其特征在于：制备内标钴粉：取无水四硼酸锂?偏硼酸锂混合熔剂、三氧化二钴于烧杯中混匀，置于Pt—Au坩埚中，加入硝酸锂和溴化锂，放入高频熔样炉于1100℃温度下熔融：一热时间3min，温度600℃；二热时间3min，温度1100℃；熔融时间4min，温度1100℃；自冷5min，风冷4min取出，熔好的玻璃片在震动磨中震动磨样2min取出，装瓶放入干燥器中待用；其中水四硼酸锂?偏硼酸锂∶三氧化二钴∶硝酸锂∶溴化锂=15∶1∶0.6∶0.4；玻璃熔片的制备：取灼烧并冷却后的无水四硼酸锂?偏硼酸锂混合熔剂、试样、内标钴粉及硝酸锂、溴化锂于瓷坩埚中，混匀，置...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴飞，杨春艳，
申请(专利权)人：吉林建龙钢铁有限责任公司，
类型：发明
国别省市：