光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置，在检测出校验错误时的重试处理中，即使缓存容量受限也能够有效率地进行替换处理。本发明专利技术的在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，在按规定的记录量单位进行校验处理的情况下，当检测出已记录的数据的校验错误时，对主机请求发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位中，在光信息记录介质中记录。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置，在检测出校验错误时的重试处理中，即使缓存容量受限也能够有效率地进行替换处理。本专利技术的在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，在按规定的记录量单位进行校验处理的情况下，当检测出已记录的数据的校验错误时，对主机请求发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位中，在光信息记录介质中记录。【专利说明】光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置
本专利技术涉及使用全息术来记录信息的光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置。
技术介绍
在下一代存储技术的研究开发中，利用全息术来记录数字信息的全息记录技术受到了关注。全息记录技术指的是，使通过空间光调制器二维调制而得的具有页数据的信息的信号光在记录介质的内部与参考光叠加，利用此时生成的干涉条纹图样在记录介质内产生折射率调制，由此在记录介质中记录信息的技术。另外，在信息再现时，将记录时使用的参考光以相同配置照射到记录介质上，记录在记录介质中的全息图起到衍射光栅那样的作用，产生衍射光。该衍射光含有与所记录的信号光相同的相位信息，作为相同的光被再现。再现的信号光使用CMOS或CXD等光检测器二维地、高速地检测。像这样的全息记录技术，因为能够使用一个全息图同时地记录/再现二维的信息，而且能够在相同位置重复写入多个页数据，所以能够实现大容量、高速的信息的记录再现。另一方面，因为在同一位置可复用记录的容量较大，所以在记录的数据较小的情况下存在浪费严重的问题。作为解决该问题的技术，例如有日本特开2009-301627号公报(专利文献I )。该公报中记载了这样的内容，“以在同一体积(volume，体全息的记录载体体积)中复用记录的方式进行全息记录时，当要记录的数据在记录结束时产生了不能填满一个册(book，页数据的集合)的零头数据的情况下，能够将零头数据记录到记录装置的辅助记录装置中，而不是记录到全息记录介质上，在进行追加记录时，从辅助记录装置读取零头数据，将其与追加记录的输入数据连起来记录到全息记录介质上，因此能够不产生浪费地在全息记录介质中进行数据的追加记录。”专利文献1:日本特开2009-301627号公报
技术实现思路
上述专利文献I中记载了在全息记录介质中不产生浪费地进行数据的追加记录的技术，但是没有提及发生校验错误即不能正确读取已记录的数据的情况下的处理，没有记载重试(retry)即重新记录时高效进行数据记录的技术。因此，本专利技术的目的在于提供一种光信息记录再现装置和光信息记录再现方法，在检测到校验错误而进行重试时能够高效地记录数据。为了解决上述问题，例如采用以下技术方案。本专利技术第一技术方案，提供一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，包括:暂时保存从主机发送的数据的存储部；作为记录的前处理对上述光信息记录介质进行预固化(pre-cure),作为记录的后处理进行后固化(post-cure)的固化部；将保存在上述存储部中的数据依次记录到进行了上述预固化后的区域中的记录部；对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；当检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部；和根据再次传输的数据生成重试数据的控制部，其中，由上述固化部进行预固化，并利用上述记录部在该进行了预固化的部位记录数据，然后由上述固化部进行后固化，当上述校验部检测出校验错误时，通过上述数据请求部对主机请求再次传输数据，由上述控制部将再次传输的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在上述存储部中，并由上述记录部记录到上述光信息记录介质上。本专利技术第二技术方案，提供一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现方法，包括:作为记录的前处理对上述光信息记录介质实施预固化的步骤；在进行了上述预固化后的区域中依次记录数据的步骤；作为记录的后处理进行后固化的步骤；对已记录的数据的校验错误进行检测的步骤；和当检测到校验错误时，对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的步骤，其中，将发生了校验错误的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，记录到上述光信息记录介质上。本专利技术第三技术方案，提供一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，包括:暂时保存要在上述光信息记录介质上记录的数据的存储部；作为记录的前处理对上述光信息记录介质进行预固化，作为记录的后处理进行后固化的固化部；将保存在上述存储部中的数据依次记录到进行了上述预固化后的区域中的记录部；对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；和在检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部，其中，上述记录部与上述校验部独立而能够同时执行处理，由上述固化部进行预固化，并利用上述记录部在该进行了预固化的部位记录数据，然后由上述固化部进行后固化，当上述校验部检测出校验错误时，由上述数据请求部对主机请求再次传输发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在上述存储部中，并由上述记录部记录到上述光信息记录介质上。本专利技术第四技术方案提供一种包括多个光信息记录再现装置及其控制部的数据库装置，其中上述光信息记录再现装置包括:存储要在上述光信息记录介质上记录的数据的存储部；作为记录的前处理对上述光信息记录介质实施预固化，作为记录的后处理对上述光信息记录介质进行后固化的固化部；在进行了上述预固化后的区域中记录从上述控制部发送的数据的记录部；和读取已记录的数据发送给上述控制部的再现部，其中，上述控制部包括:存储要在上述光信息记录介质上记录的数据的存储部；和进行纠错和纠错码的附加的信号处理部，利用上述控制部的信号处理部，确认上述光信息记录介质上记录的数据是否正确。根据本专利技术，在校验错误的重试中能够高效地记录数据。上述以外的技术问题、技术特征和技术效果，使用以下实施方式说明。【专利附图】【附图说明】图1是表示第一实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。图2是表示第一实施例的光信息记录再现装置的信号处理电路的结构的框图。图3是说明第一实施例的光信息记录再现装置的动作的流程图。图4是说明第一实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理的动作的流程图。图5是表示第一实施例的光信息记录介质上的固化(cure)和册(book)的说明图。图6是表示第一实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。图7是第一实施例的光信息记录再现装置的数据与册的对应图。图8是第一实施例的光信息记录再现装置的数据与册的对应图。图9是表示第二实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。图10是表示第二实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。图11是表示第三实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。图12是表示第四实施例的数据库装置的结构的框图。图13是表示第四实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。图14是表示第四实施例的库装置控制电路的结构的框图。附图标记说明S401……重试数据有无判定处理S402……数据接收和存储器配置处理S403……除重试数据外的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，其特征在于，包括：暂时保存从主机发送的数据的存储部；作为记录的前处理对所述光信息记录介质进行预固化，作为记录的后处理进行后固化的固化部；将保存在所述存储部中的数据依次记录到进行了所述预固化后的区域中的记录部；对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；当检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部；和根据再次传输的数据生成重试数据的控制部，其中，由所述固化部进行预固化，并利用所述记录部在进行了该预固化的部位记录数据，然后由所述固化部进行后固化，当所述校验部检测出校验错误时，通过所述数据请求部对主机请求再次传输数据，由所述控制部将再次传输的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在所述存储部中，并由所述记录部记录到所述光信息记录介质上。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：赤星健司，平林正幸，
申请(专利权)人：日立民用电子株式会社，
类型：发明
国别省市：