【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，属于颗粒光学特性测量
，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本专利技术通过建立球形颗粒系反射信号和透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用连续激光，测量得到颗粒系的半球反射信号和半球透射信号，采用现有Mie理论模型，能很精确的反应出颗粒的电磁散射特性。本专利技术适用于测量球形颗粒光谱复折射率。【专利说明】
本专利技术属于颗粒光学特性测量
。
技术介绍
在自然界及工业生产中，很多物质及产品呈现颗粒状态，据统计，工业中有50%以上的产品与中间产物呈颗粒状。颗粒的吸收散射以及发射等性质在许多工程及环境系统内扮演着重要的角色，因此对颗粒的光谱复折射率的求解就显得尤为重要。颗粒的光谱复折射率属于颗粒的固有物性参数，与颗粒的组成成分、温度水平及表面的状况等因素有关。然而，颗粒的光谱复折射率一般不能通过实验直接测量得到，通常都采用某些实验测得的参数结合相关的反演理论模型进行计算。常见的颗粒的光谱复折射率的实验研究方法有反射法、透射法和散射法。其中，反射法是通过测量粒子压片的反射率，结合相应的...
【技术保护点】
一种利用连续激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，其特征在于，该方法的具体步骤为：?步骤一、将待测颗粒装在有机玻璃样本容器中，将待测颗粒溶于溶液中，并搅拌均匀，使颗粒系处于悬浮流动状态；?步骤二、利用连续激光沿着与样本容器表面法线成θc角的方向入射到样本容器左侧表面；其中，0<θc<π/2；?步骤三、采用光电接收器在样本颗粒容器的左侧表面测量半球反射信号，在样本颗粒容器的右侧表面测量半球透射信号，并记录样本颗粒的左侧边界处的半球反射信号Rexp,λ和右侧边界处的半球透射信号τexp,λ；?步骤四、利用粒径分析仪测量样本颗粒系的粒径，并根据粒径的分布规律获得粒径分布函数...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：齐宏，贺振宗，任亚涛，孙双成，阮立明，谈和平，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：
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