一种用于微波模块的连接测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用于微波模块的连接测试装置，包括连接器金属测试围框，于连接器金属测试围框内对称装置液晶聚合物介质，位于连接器金属测试围框的两端通过紧固件对称连接金属测试法兰，各金属测试法兰通过紧固件连接测试接头。本实用新型专利技术结构简单、安装简单方便，不仅实现微波信号小驻波、低损耗的垂直可靠互连，还能实现小型化微波模块的3D低频信号、直流供电的可靠互连，有效的实现了微波信号的垂直可靠互连，以及微波模块的低成本及小型化。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于微波模块的连接测试装置，其特征在于：包括连接器金属测试围框（5），于所述连接器金属测试围框（5）内对称装置液晶聚合物介质（6），位于所述连接器金属测试围框（5）的两端通过紧固件（2）对称连接金属测试法兰（4)，各金属测试法兰（4）通过紧固件(2)连接测试接头（1）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：薛国锋，徐学林，
申请(专利权)人：无锡华测电子系统有限公司，
类型：实用新型
国别省市：