畸变测试用目标系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光学系统畸变测试用目标系统，属于光学计量与光电检测领域。该系统包括光源、滤光片、聚光镜、起偏器、第一检偏器组件、第二检偏器组件，畸变测试靶、分光棱镜、CCD、壳体、轴承、准直物镜和聚焦透镜。通过起偏器、第一检偏器组件和第二检偏器组件组合使用，能够产生中心亮，四周暗的高信噪比光，用来照明畸变测试靶上的星孔，并且可根据被测光学系统焦距的不同，在畸变测试靶上选择与之匹配的星孔。因此，本发明专利技术为高精度畸变测量提供了一种星孔大小可调、信噪比高的目标系统，同时还具有波长范围可选、性能可靠、覆盖范围广的特点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种畸变测试用目标系统，包括光源（1）、壳体（10）、轴承（13）、准直物镜（11）、滤光片（2）和聚光镜（3），其特征在于：还包括起偏器（4）、第一检偏器组件（5）、第二检偏器组件（6）、畸变测试靶（7）和分光棱镜（8）；所述壳体（10）为一端带底一端敞口的圆筒，在壳体（10）的筒壁上沿轴向依次开有第一周向圆弧槽、第二周向圆弧槽和第三周向圆弧槽；所述滤光片（2）插入第一周向圆弧槽中，滤光片（2）的手柄位于壳体（10）外；所述第一检偏器组件（5）包括第一检偏器（5－1）、第一镜筒（5－2）、第二镜筒（5－3）和手柄（5－4）；所述第一检偏器（5－1）固定安装在第一镜筒（5－2）内，第一镜筒（5...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：姜昌录，郑雪，袁良，郭羽，吴李鹏，康登魁，
申请(专利权)人：西安应用光学研究所，
类型：发明
国别省市：