利用激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置制造方法及图纸

利用激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置，属于稀土性质测量领域。本实用新型专利技术为了解决现有的测量稀土离子辐射寿命系统庞大、荧光激发效率低的问题。激光器发出的连续激光的波长为473nm或532nm，光电调制器的电压输入端与高压模块的电压输出端连接，方波发生模块通过滤波器与高压模块的输入端连接，方波发生模块与数据采集卡连接，激光器发出的连续激光入射至电光调制器，经过偏振片及一号透镜聚焦到待测稀土样品上，激发待测稀土样品产生的荧光入射至二号透镜，再会聚至光谱仪的光接收端并获得荧光信号，光电探测器的输入端和输出端与光谱仪和数据采集卡连接，显示器与计算机主机连接。本实用新型专利技术用于测量固体中稀土离子辐射寿命。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
利用激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置，它由激光器（1）、电光调制器（2）、偏振片（3）、一号透镜（4）、二号透镜（6）、光谱仪（7）、光电探测器（8）、数据采集卡（9）、方波发生模块（10）、高压模块（11）、计算机主机（12）、滤波器（13）、显示器（14）、输入设备（15）、输出设备（16）和稳压器（17）组成；其特征在于：所述激光器（1）发出的连续激光的波长为473nm或532nm，光电调制器（2）的电压输入端通过稳压器（17）与高压模块（11）的电压输出端连接，方波发生模块（10）通过滤波器（13）与高压模块（11）的输入端连接，方波发生模块（10）产生方波控制信号，并输入至高压模块（11），高压模块（11）用于驱动电光调制器（2）；方波发生模块（10）与数据采集卡（9）连接，用于将触发信号输入至数据采集卡（9）；激光器（1）发出的连续激光入射至电光调制器（2），经过电光调制器（2）对偏振方向进行调制后，经过偏振片（3），通过一号透镜（4）聚焦到待测稀土样品（5）上，激发待测稀土样品（5）产生荧光，所述荧光入射至二号透镜（6），经二号透镜（6）会聚至光谱仪（7）的光接收端，经光谱仪（7）分光获得荧光信号；光电探测器（8）的输入端与光谱仪（7）连接，光电探测器（8）的输出端与数据采集卡（9）连接，光电探测器（8）用于探测经光谱仪（7）分光的荧光信号，并将探测信号输入数据采集卡（9）建立探测结果的衰减曲线，数据采集卡（9）的数据输出端与计算机主机（12）连接，用于将采集信息存储至计算机主机（12），并对所述探测结果的衰减曲线进行拟合；显示器（14）与计算机主机（12）连接，用于显示衰减曲线；输入设备（15）和输出设备（16）分别于计算机主机（12）连接，输入设备（15）为鼠标和键盘，输出设备（16） 为打印机、复印机或传真机。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：秦江，张治国，
申请(专利权)人：哈尔滨工大北新恒业能源科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：