一种消除干涉环的超微型光学相干断层成像探头制造技术

技术编号:9315394 阅读:99 留言:0更新日期:2013-11-06 20:17
本实用新型专利技术涉及医疗器械技术领域,提供了一种消除干涉环的超微型光学相干断层成像探头,所述探头包括单模光纤部分、梯度折射率透镜部分和反射棱镜部分,所述梯度折射率透镜部分黏贴于单模光纤部分一端,所述反射棱镜部分黏贴于梯度折射率透镜部分一端,且所述梯度折射率透镜部分的光程大于5mm。本实用新型专利技术一方面在既不消除反射面也不增大反射面角度的情况下,将反射光的距离拉远,使得产生的干涉环超出图像的显示范围,进而使反射光弱到不产生干涉现象,另一方面可以同时满足尺寸小于250um以及消除多次反射产生的干涉环的优点。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种消除干涉环的超微型光学相干断层成像探头,其特征在于:所述探头包括单模光纤部分(13)、梯度折射率透镜部分(23)和反射棱镜部分(33),所述梯度折射率透镜部分(23)黏贴于单模光纤部分(13)一端,所述反射棱镜部分(33)黏贴于梯度折射率透镜部分(23)一端,且所述梯度折射率透镜部分(23)的光程大于5mm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:米磊刘钊朱锐
申请(专利权)人:深圳市中科微光医疗器械技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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