痕迹物证照相透视校正比例尺制造技术

本实用新型专利技术公开一种痕迹物证照相透视校正比例尺，比例尺本体为透明材质，刻度线、标志点位于比例尺背面从而避免了比例尺弯曲变形、刻度与痕迹物证不在一个平面的现象，而且为框形设计为前期拍照取景、后期校正透视变形现象提供了科学的参照物。采用本实用新型专利技术可以大幅提高痕迹物证影像的比例准确性，为全自动指纹、掌纹、足迹等图像识别系统建立起统一的标准，杜绝因活体采集扫描、平板扫描、拍照输入器材不同、标准不一等产生的误差，对提高鉴定质量和全自动比对系统的查中率有重大意义。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种痕迹物证照相透视校正比例尺，其特征在于，比例尺本体为透明材质，刻度线、标志点位于比例尺背面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鹏，
申请(专利权)人：刘兰平，
类型：实用新型
国别省市：