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本实用新型公开一种痕迹物证照相透视校正比例尺，比例尺本体为透明材质，刻度线、标志点位于比例尺背面从而避免了比例尺弯曲变形、刻度与痕迹物证不在一个平面的现象，而且为框形设计为前期拍照取景、后期校正透视变形现象提供了科学的参照物。采用本实用新型...
该专利属于刘兰平所有，仅供学习研究参考，未经过刘兰平授权不得商用。

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