摄像设备和摄像设备的控制方法技术

本发明专利技术涉及一种摄像设备和摄像设备的控制方法。所述摄像设备包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素；以及检测部件，用于基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素，其中，所述检测部件基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从所述缺陷像素的对象中排除。

【技术实现步骤摘要】
摄像设备和摄像设备的控制方法
本专利技术涉及一种使用固态图像传感器的摄像设备、以及用于对摄像设备中的缺陷像素进行处理的方法。
技术介绍
在近来的摄像设备中，例如，以电荷耦合器件(CCD)传感器和互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器为代表的固态图像传感器中的像素数不断增加。随着这种像素数量的增加，图像传感器上的缺陷像素(缺陷)的出现也不断增多。缺陷像素的示例包括在图像传感器的制造过程期间产生的制造缺陷、以及在安装于摄像设备之后发生的生长缺陷。在生长缺陷中，一些缺陷可以被进一步分类为根据摄像设备的温度而在使用期间发生增减的温度特性依赖缺陷。在这些缺陷像素中，对于制造缺陷，通过在出厂时拍摄黑图像并且检测缺陷像素的位置来预先校正这些缺陷。此外，对于生长缺陷，可以通过在接通电源时强制对图像传感器进行遮光来拍摄黑图像，对缺陷像素进行检测和校正。然而，在上述方法中，无法检测到摄像设备的使用期间依赖于温度变化而发生的温度特性依赖缺陷。日本特开2004-015191论述了用于从所拍摄图像检测和校正缺陷像素的方法。在日本特开2004-015191所论述的方法中，将各个像素的亮度与周围像素的亮度进行比较，并且将亮度相差了预定水平以上的像素判断为白缺陷(whiteflaw)。然而，在日本特开2004-015191所论述的方法中，在包括调焦像素的图像传感器的输出中，由于调焦像素的输出值和摄像像素的输出值之间的差值大，因此存在调焦像素的输出值被识别为像素缺陷的问题。
技术实现思路
本专利技术涉及一种摄像设备和摄像设备的控制方法，即使对于包括调焦像素的图像传感器，本专利技术的摄像设备及其控制方法也能够适当地校正像素缺陷，并且在不会使调焦计算精度下降的情况下输出良好图像。根据本专利技术的第一方面，提供了一种摄像设备，包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素；以及检测部件，用于基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素，其中，所述检测部件基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从所述缺陷像素的对象中排除。根据本专利技术的第二方面，提供了一种摄像设备，包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素；以及校正部件，用于对所述图像传感器内的缺陷像素的像素值进行校正，其中，所述校正部件基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从校正对象中排除。根据本专利技术的第三方面，提供了一种摄像设备的控制方法，所述摄像设备包括图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素，所述控制方法包括：基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素；以及基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从所述缺陷像素的对象中排除。通过以下参考附图对典型实施例的详细说明，本专利技术的其它特征和方面将变得明显。附图说明包含在说明书中并构成说明书一部分的附图示出了本专利技术的典型实施例、特征和方面，并和说明书一起用来解释本专利技术的原理。图1是示出根据本专利技术的第一典型实施例和第二典型实施例的摄像设备的结构的框图。图2A、2B和2C是示出根据第一典型实施例和第二典型实施例的缺陷处理电路的结构的框图。图3A和3B示出根据第一典型实施例的数据阵列。图4是示出根据第一典型实施例的摄像设备的操作的流程图。图5A和5B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。图6A和6B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。图7A和7B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。图8A、8B、8C和8D示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。图9A和9B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。图10A和10B是示出根据第一典型实施例和第二典型实施例的缺陷校正电路的结构的框图。图11A和11B示出根据第二典型实施例的图像数据阵列。图12A和12B示出根据第一典型实施例和第二典型实施例的调焦像素的结构示例。图13示出根据第三典型实施例的缺陷处理电路的结构示例。具体实施方式以下将参考附图来详细说明本专利技术的各种典型实施例、特征和方面。以下将说明第一典型实施例。图1示出根据本典型实施例的摄像设备的结构。图像传感器100将经由包括前透镜组119、光圈118、第二透镜组117、后透镜组116和焦平面快门111的光学系统所接收到的光学图像转换成电信号(模拟信号、即图像信号)。从图像传感器100输出的模拟信号由模拟前端(AFE)102进行增益调整，并且基于预定的量化位数被转换成数字信号(图像数据)。图像传感器100和AFE102的驱动定时由定时发生器(TG)101进行控制。随机存取存储器(RAM)107是用于存储从AFE102输出的图像数据和(以下所述的)图像处理单元108处理后的图像数据的存储器(图像存储器)。RAM107还用作(以下所述的)中央处理单元(CPU)103的工作存储器。此外，尽管RAM107用于图像存储器和工作存储器，但还可以使用一些其它存储器，只要其存取速度足够即可。只读存储器(ROM)105存储在CPU103上运行的程序。在图示的例子中，尽管使用闪速ROM作为ROM105，但还可以使用除闪速ROM以外的存储器，只要其存取速度足够即可。CPU103综合控制各单元。图像处理单元108对通过摄像所获得的图像数据进行诸如白平衡处理、插值处理(去马赛克)、显影处理、伽玛处理和失真校正处理等的图像处理以及诸如压缩编码等的处理。此外，图像处理单元108包括(以下所述的)缺陷校正单元201。记录单元109例如是非易失性存储器或硬盘。在该记录单元中，例如记录有静止图像数据和运动图像数据。在图示的例子中，尽管记录单元109包括在摄像设备中，但还可以使用诸如能够经由连接器进行安装/拆卸的非易失性存储器和硬盘等的记录介质。当向CPU103发出摄像命令和诸如摄像条件等的设置项时使用操作单元104。显示单元106在CPU103的控制下显示通过摄像所获得的静止图像和运动图像、以及菜单。前透镜组119配置在摄像光学系统(成像光学系统)的前方。后透镜组116被保持为可以在光轴方向上进退。通过使后透镜组116在光轴方向上进退来进行焦点调节。光圈118通过调节其开口直径来进行摄像期间的光量调节。通过与后透镜组116的进退操作连动地使光圈118和第二透镜组117一起在光轴方向上进退来实现变倍作用(变焦功能)。在拍摄静止图像时，焦平面快门111调节曝光时间。在本典型实施例中，尽管利用焦平面快门111来调节图像传感器100的曝光时间，但还可以采用一些其它结构。例如，图像传感器100可以包括电子快门功能，并且可以基于控制脉冲来调节曝光时间。调焦驱动电路112基于自动调焦(AF)计算单元110所进行的焦点检测的结果来对调焦致动器114进行驱动控制，并且使后透镜组116在光轴方向上进退以进行焦点调节。光圈驱动电路113通过对光圈致动器115进行驱动和控制来控制光圈118的开口。图2A、2B和2C示出图1所示的图像处理单元108内的缺陷(像素缺陷)处理电路的结构。缺陷处理电路108a包括缺陷检测电路108b和缺陷校正电路108c。在水平方向上以行为单位依次输入图像数据。当将第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种摄像设备，包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素；以及检测部件，用于基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素，其中，所述检测部件基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从所述缺陷像素的对象中排除。

【技术特征摘要】
2012.04.11 JP 2012-0903651.一种摄像设备，包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括摄像像素和调焦像素的多种类型的像素；检测部件，用于基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素，以及校正部件，用于基于来自所述检测部件的检测结果和表示所述调焦像素在所述图像传感器中的位置的第二信息来对所述缺陷像素的像素值进行校正，其中，在所述检测部件所检测到的所述缺陷像素的位置与所述第二信息所表示的所述调焦像素的位置不一致的情况下，所述校正部件校正所述检测部件所检测到的所述缺陷像素的像素值，在所述检测部件所检测到的所述缺陷像素的位置与所述第二信息所表示的所述调焦像素的位置一致的情况下，所述校正部件不校正所述检测部件所检测到的所述缺陷像素的像素值。2.根据权利要求1所述的摄像设备，其中，所述检测部件基于中心值与检测对象像素的像素值之间的差来检测所述缺陷像素，所述中心值是根据所述检测对象像素的像素值和所述检测对象像素周围的像素的像素值而获得的。3.根据权利要求2所述的摄像设备，其中，所述检测部件在确定所述中心值时，基于所述第二信息，不使用所述调焦像素的像素值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的摄像设备，其中，所述校正部件基于根据所述缺陷像素周围的像素的像素值所获得的平均值来计算...

【专利技术属性】
技术研发人员：三本杉英昭，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：