物品缺陷检测系统与方法技术方案

本发明专利技术公开了一种物品缺陷检测系统(100)，包含有一个大体上位于物品(102)侧面的光源(101)，用来投射光线以照亮部分物品(102)；一个用来支撑物品(102)的平台(103)；一个光传感器(105)；以及一个布置在光源(101)和物品(102)之间，以一定角度向光源(101)倾斜的反射装置(104)，用来接收从物品被照亮部分反射出的光图像，并将光图像投射到光传感器(105)上；在那里，光传感器(105)将反射过来的光图像记录下来，并将光图像转换成数据，以供缺陷分析之用。本发明专利技术能够有效检测物品表面和内部的缺陷。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种物品缺陷检测系统(100)，其特征在于，包含有????一个大体上位于物品(102)侧面的光源(101)，用来投射光线以照亮部分物品(102)；????一个用来支撑物品(102)的平台(103)；?????一个光传感器(105)；以及????一个布置在光源(101)和物品(102)之间，以一定角度向光源(101)倾斜的反射装置(104)，用来接收从物品被照亮部分反射出的光图像，并将光图像投射到光传感器(105)上；在那里，光传感器(105)将反射过来的光图像记录下来，并将光图像转换成数字数据，以供缺陷分析之用。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建惠，
申请(专利权)人：伟特集团，
类型：发明
国别省市：