测量元素点的图形化处理系统及方法技术方案

技术编号:9274453 阅读:112 留言:0更新日期:2013-10-24 22:46
一种测量元素点的图形化处理系统及方法,包括:获取从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息;利用所述测量元素点的坐标信息进行元素拟合,得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数;计算该拟合元素上各测量元素点的新向量;绘制拟合元素及该拟合元素上的测量元素点,并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口;当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时,重新分布所述的拟合元素中所包含的测量元素点,并记录为新测量元素点;计算拟合元素上新测量元素点下行后的坐标;在所绘制的拟合元素中绘制下行后的新测量元素点。利用本发明专利技术能够更加方便以及图形化地处理测量元素点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量元素点的图形化处理方法,其特征在于,该方法包括:获取步骤:获取并记录从待测工件上采集的测量元素点的坐标信息;拟合步骤:利用所记录的测量元素点的坐标信息进行元素拟合,得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数;第一计算步骤:根据所述测量元素点的坐标信息及该拟合元素的参数,计算该拟合元素上各测量元素点的新向量;第一绘制步骤:根据该拟合元素的参数、测量元素点的坐标及新向量,绘制所述拟合元素及该拟合元素上的测量元素点,并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口;分布步骤:当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时,重新分布所述拟合元素所包含的测量元素点,并记为新测量元素点;第二计算步骤:根据预设的下行深度计算所述新测量元素点下行后的坐标;第二绘制步骤:删除掉该拟合元素上的测量元素点,并利用所计算的新测量元素点下行后的坐标,在上述绘制出的拟合元素中绘制该下行后的新测量元素点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张旨光吴新元张正志
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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