【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种相控阵天线近场测量中的同时多波束精确扫描取样方法，其特征为：定位器控制探头滑动扫描经过每一个取样位置时保持相同的均匀的速度；编码控制器在接收到来自定位器在取样位置发出的电脉冲后，首先向相控阵波束控制器发出波束编码和转换指令，然后延迟一个固定的时间，使波束转换完成；紧接着向射频测量系统发送取样测量指令，然后延迟一个固定的时间，使射频取样测量完成；再进入下一个波束转换的周期，直至所有波束转换和射频取样测量完成，最后从射频测量系统中取回所有波束取样数据，完成在探头滑动的过程中同时完成多个波束扫描取样测量；波束编码、波束转换指令、取样测量指令和两个固定延时长度均基于编码控制器的时钟产生，获得精确的工作周期，使得各波束的取样间隔一致，取样数据便于直接进行FFT计算以获得精确的波束形状。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱平，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七二四研究所，
类型：发明
国别省市：
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