引力波探测装置设计及其方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种引力波探测装置设计及其方法，其装置的设计利用了TRIZ和光学干涉原理。引力波探测装置组成：1.激光器；2.循环镜；3.半透明半反射玻璃；4.相位调节器；5.反射镜；6.相位调节器；7反射镜；8.光电二极管；9.差分器；10.相关器。其工作原理：由3个检验质量组成光学干涉仪的2个光臂。当2光臂相互垂直时，在入射引力波的作用下，2个光臂以相反的相位随着入射引力波振动，激光器发射的光束往返于2个光臂的检验质量之间。当有入射引力波存在的情况下，光电转换器件接收到从2个光臂来的光束间的位相差就会变化。高频引力波(10Hz一10kHz)是引力波探测装置最敏感的频带。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种引力波探测装置设计及其方法，其特征在于它包括:?1.激光器；2.循环镜；3.半透明半反射玻璃；4.?相位调节器；5.反射镜；6.相位调节器；7反射镜；8.?光电二极管；9.?差分器；10.相关器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴寿煜，张宇红，吴佳蓬，
申请(专利权)人：江南大学，
类型：发明
国别省市：