微结构力学性能片外弯曲测试装置制造方法及图纸

技术编号:9141558 阅读:175 留言:0更新日期:2013-09-12 03:23
本发明专利技术公开了一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样夹持部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;三维移动平台设在隔振底座的一侧,抗振固定块设在隔振底座的另一侧,试样夹持部分设在抗振固定块上,驱动部分设在三维移动平台上,载荷检测部分与驱动部分连接并与试样夹持部分对应,位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,放大观测部分设在隔振底座上对准试样夹持部分。本发明专利技术具有结构简单,制作成本低,夹持和对中简单,使微尺度下的弯曲力学性能测试更加高效、可靠。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,其特征是包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样夹持部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;所述三维移动平台设在隔振底座的一侧,所述抗振固定块设在隔振底座的另一侧,所述试样夹持部分设在抗振固定块上,所述驱动部分设在三维移动平台上,所述载荷检测部分与驱动部分连接并与试样夹持部分对应,所述位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,所述放大观测部分设在隔振底座上对准试样夹持部分。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘彬陶俊勇王晓晶张云安陈循蒋瑜易晓山
申请(专利权)人:中国人民解放军国防科学技术大学
类型:发明
国别省市:

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