一种固体物料中硫成分的快速检测方法及其检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种固体物料中硫成分的快速检测方法及其检测装置，属于环境保护及矿业生产技术领域。首先从待测物料上进行采样，对测试样品进行X射线照射，得到特征X射线和反散射X射线的混合能谱，利用混合能谱中的硫元素的特征X射线以及反散射X射线的强度，计算得到测试样品中硫成分的含量。本检测装置包括采样机和测量系统。本发明专利技术检测过程简单，检测结果更加正确可靠。检测装置的设备成本和使用成本远低于已有的利用中子瞬发伽马射线活化分析的成本。本发明专利技术的检测方法和检测装置可以用于煤炭的生产加工，如煤矿、洗煤厂等，或焦化厂、火力发电厂等，也可以用于钢铁、有色冶金、糖厂等多个技术领域。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种固体物料中硫成分的快速检测方法，其特征在于该方法包括以下步骤：（1）从待测物料上进行采样，将所采集物料进行粉碎，使待测物料的颗粒度小于30mm，得到测试样品；（2）对测试样品进行X射线照射，得到特征X射线和反散射X射线的混合能谱，利用混合能谱中的硫元素的特征X射线以及反散射X射线的强度，根据如下公式计算得到测试样品中硫成分的含量：S=b0ISIr+b1,其中S为样品中硫元素质量与样品总质量的百分比，IS为所测混合能谱中硫元素的特征X射线的强度，Ir为所测混合能谱中反散射区域内的反散射X射线强度，b0、b1分别为修正常数，修正常数b0、b1的标定方法为：从一批物料中抽取多个样品，通过化验得到多个样品硫成分，并通过X射线照射得到多个样品的相应硫元素的特征X射线的强度IS和反散射区域内的反散射X射线强度Ir，利用最小二乘法，拟合计算得到修正常数b0、b1；或：对测试样品进行X射线照射，得到特征X射线和反散射X射线的混合能谱，利用混合能谱中的各元素的特征X射线以及反散射X射线的强度，根据如下公式计算得到测试样品中硫成分的含量：S=a0ISIr+a1ICaIr+a2ITiIr+a3IFeIr+a4,其中S为样品中硫元素质量与样品总质量的百分比，IS为所测混合能谱中硫元素的特征X射线的强度，ICa为所测混合能谱中钙元素的特征X射线的强度，ITi为所测混合能谱中钛元素的特征X射线的强度，IFe为所测混合能谱中铁元素的特征X射线的强度，Ir为所测混合能谱中反散射区域内的反散射X射线强度，a0、a1、a2、a3、a4为修正常数，修正常数a0、a1、a2、a3、a4的标定方法为：从一批物料中抽取多个样品，通过化验各得到多个样品的硫成分，并通过X射线照射得到多个样品的相应的硫元素的特征X射线的强度IS、 钙元素的特征X射线的强度ICa、钛元素的特征X射线的强度ITi、铁元素的特征X射线的强度IFe和反散射区域内的反散射X射线强度Ir，利用最小二乘法，拟合计算得到修正常数a0、a1、a2、a3、a4。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：衣宏昌，林谦，程建平，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：