一种快速的KDP晶体最佳匹配角精确测量方法技术

本发明专利技术公开了一种快速的KDP晶体最佳匹配角精确测量方法，包括以下步骤：A1单点调谐曲线的快速测量；A2、晶体全口径的最佳匹配角计算方法；采用快速搜索策略，在最佳匹配角附近获取该测量点在不同角度下的相对转换效率，从而拟合该点的调谐曲线。采用各单点的相对转换效率总和最大规则求取晶体全口径的最佳匹配角。本发明专利技术的方法针对现有测量系统存在测量速度慢、计算晶体最佳匹配角存在误差等问题，实现了对KDP晶体最佳匹配角的快速、准确测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种快速的KDP晶体最佳匹配角精确测量方法，其特征在于，包括以下步骤：A1单点调谐曲线的快速测量（1）通过KDP晶体最佳匹配角测量系统中的运动控制子系统，将测量点定位于KDP晶体的中心位置，从起始角到终止角等间隔角度α转动，测量该点在不同角度下的晶体相对转换效率η（θ）；然后利用二次曲线η(θ)=aθ2+bθ+c进行拟合，公式中a、b、c为拟合系数，并找出该调谐曲线η（θ）的最大值点θ0，即为各测量点的微步距精确搜索区间的中心位置；（2）通过运动控制子系统，将测量点定位于晶体的左上角，采用图2所示的从左到右，从上到下的测量顺序对各点（m×n点阵）的相对转换效率进行精确测量。每个单点的测量步骤为：在[θ0?3δ,θ0+3δ]范围内，其中θ0为晶体中心点的最佳匹配角；δ为晶体不同测量点的最佳匹配角的方差，δ根据已测晶体给出，采用微角度β步长精确测量该点在不同角度下的相对转换效率，然后利用所述的二次曲线进行拟合，即获得该测量点的调谐曲线ηij（θij），ij表示该测量的坐标；A2、晶体全口径的最佳匹配角计算方法（1）在[θ0?3δ,θ0+3δ]范围内，以步长△θ，计算各测量点的相对转换效率之和：ηk=Σi=0,j=0i=m,j=nηij;（2）求ηk的极大值ηmax；（3）ηmax所对应的角度（θ0?3δ+k×△θ）即为晶体的最佳匹配角。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：熊召，袁晓东，徐旭，郑万国，范勇，陈念年，刘长春，叶海仙，曹庭分，易聪之，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，西南科技大学，
类型：发明
国别省市：