RFID标签天线的非接触式测试系统及方法技术方案

技术编号:9086608 阅读:164 留言:0更新日期:2013-08-28 23:13
本发明专利技术公开了一种对RFID标签天线非接触式测试的系统及方法,RFID标签天线的非接触式测试系统包括显示单元、数据处理与控制单元、射频信号发/收单元、送料机构单元以及测试天线单元,数据处理与控制单元分别与显示单元、射频信号发送驱动单元、送料机构单元相连,测试天线单元与射频信号发/收单元相连。采用非接触式测试,不需要绑定芯片就可以测试,减少了芯片的损耗;降低检验人员的工作强度;错检、漏检率低;可实现自动化检测,检测效率高;可实现对电性能的间接测量。本发明专利技术容易实现自动化测试而且大大降低了对机械机构的要求,非常适合大批量的生产检测。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种RFID标签天线的非接触式测试系统,其特征在于包括:显示单元:用于显示测试结果和相应的数据、图形,用作人机交互的界面;数据处理与控制单元:用于其它功能模块的配置和控制,采样、储存测试数据,计算数据、判定测试结果;射频信号发/收单元:用于在控制单元控制下按要求产生可以覆盖被测天线自谐振频率的一定范围的射频信号,以及放大射频信号到指定的功率值,驱动测试天线单元发射射频信号,接收来自测试天线单元的被测天线的反馈信号并进行放大;测试天线单元:用于将功率放大后的本地产生的高频信号转变成电磁场发送到被测天线,接收来自被测天线的信号,在控制单元的控制下按照发射的信号频率变化进行天线的频率调谐,同时进行天线阻抗匹配调整;送料机构单元:在数据处理与控制单元的控制下将被测天线传送到测试位置,对测试发现的不合格天线进行标识;其中所述数据处理与控制单元分别与显示单元、射频信号发送驱动单元、送料机构单元相连,测试天线单元与射频信号发/收单元相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陆凤生蔡雄辉
申请(专利权)人:苏州德诚物联科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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