一种测试薄液膜厚度的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种可测试薄液膜厚度的装置，该装置可准确、简洁的测量出薄液膜的厚度，并可实时监控液膜厚度的变化，确保可获得薄液膜厚度稳定的实验体系。本发明专利技术涉及的原理是激光可透过液体和空气但不能透过固体的原理,将激光发射器和接收器构成回路,并连接电流表。通过激光接收器将接收到的光信号的强弱转变为电流信号。激光先照射到固体试样，电流表示数为0；下移载物台的高度，到电流表有示数时，载物台上螺旋测微器的刻度为L1。保持载物台高度不变，生成液滴，电流表示数再次变为0，下移载物台高度，当电流表再次出现示数时，载物台上螺旋测微器刻度为L2。薄液膜高度为（L2-L1）。本发明专利技术的有益效果在于：可实现10μm-999μm薄液膜厚度的测量，可用于测量金属材料在薄液膜下的电化学行为。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试薄液膜厚度的装置，其特征在于：包括载物台(2)、螺旋测微器(3)、激光发射器(9)、激光接收器(6)、凸透镜(7)、电流表(8)、位移控制台(1)、电源(10)组成，所述的位移控制台(1)上安装有载物台(2)和螺旋测微器(3)，其两端分别放置激光发射器(9)和激光接收器(6)，两者要完全对应，在激光发射器(9)和试样（4）之间放1?3个凸透镜(7)，激光发射器(9)与电源(10)连接，激光接收器（6）与电流表（8）连接，电源（10）、激光发射器（9）、激光接收器（6）和电流表（8）构成回路，通过激光接收器（6）将接收到的光信号的强弱转变为电流信号，具体实施步骤为：将试样（4）放在载物台...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：董超芳，栗丽，姚纪政，肖葵，吴俊升，雷浩，李晓刚，
申请(专利权)人：北京科技大学，
类型：发明
国别省市：