本发明专利技术公开了一种等离子显示屏制造过程参数重要性的动态确定与优化方法，根据等离子显示屏生产工艺的产品等级和不良类型，采用特征提取技术，在给定多个特征提取的结果后，将多种特征抽取的方法有机地融合到集成特征提取的过程中，从多个角度获取更加稳定的特征提取结果，从而克服了应用单个特征提取方法的弊端和不稳定性，最终形成对等离子显示屏生产数据的更健壮、更为稳定、更具实际意义的展示。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种等离子显示屏制造过程特性的数据挖掘技术，尤其是涉及一种。
技术介绍
等离子显示屏制造过程参数重要性的确定直接影响着等离子显示屏的最终品质等级，以前是通过建设期的试验设计和反复验证来确定等离子显示屏制造过程中参数的重要性。随着生产规划扩大化与7*24小时不间断量产，若继续需要传统的试验设计方法将浪费大量的人力和动能消耗成本，同时需要生产线进行停线来进行试验参数重要性的调试设计。这种方法一方面降低了量产的生产效率，同时试验设计方法将耗费大量的人力和动能消耗成本。因此需要一种新的方法来动态进行制造过程参数重要性的确定与优化。等离子显示屏制造过程量产过程中，单台等离子显示屏产品生产过程设备参数纳入MES系统存储达到1.2万个，每天数据量IOG以上，涉及到的参数超过9000个，在数量，维度和数据产生速度上具有海量大数据特征。如此海量的等离子显示屏制造过程数据更进一步决定了传统的参数重要性的确定方法已不适用了，特别是“特征提取”及“稳定特征提取”技术必须加入等离子显示屏制造过程数据特性。1.等离子显示屏制造过程参数数据的特征提取技术:特征提取是根据数据的分布特点，从特征库中选取一系列的特征用以构建模型的过程。特征提取的一个重要假设是数据中含有很多冗余的或者不相关的特征，而特征提取的目的就是将这些冗余信息过滤掉，找出最能够表征数据的重要特征。在此专利技术中，我们根据等离子显示屏行业特性探索了多种基本的特征提取技术，包括信息增益、信息增益比、支持向量机、relief等。2.等离子显示屏制造过程参数数据的稳定特征提取技术:集成特征提取是从多个特征提取的结果中找出具有共性的特征，即可从多个侧面表征数据的特征。通过每一种特征提取的方法，我们可以得到一系列表征数据的特征；但每种方法只能从某一侧面去解释数据。等离子显示屏制造过程参数数据的稳定特征抽取的目的是将多个特征提取的结果进行有效地融合，从中提取出多种方法所得特征间的一致性，以得到能够表征数据的稳定特征。
技术实现思路
为了克服现有技术的上述缺点，本专利技术提供了一种，根据等离子显示屏生产工艺的产品等级和不良类型，采用特征提取技术，在给定多个特征提取的结果后，将多种特征抽取的方法有机地融合到集成特征提取的过程中，从多个角度获取更加稳定的特征提取结果，从而克服了应用单个特征提取方法的弊端和不稳定性，最终形成对等离子显示屏生产数据的更健壮、更为稳定、更具实际意义的展示。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种，包括如下步骤:步骤一、根据用户提供的全工序生产数据的日期，构建全工序生产工艺的生产数据的数据库；步骤二、对全工序中所有工序的数据内容做串联处理，并按照等离子屏的等级或者不良类型进行划分，将属于特定等级或者特定不良类型的等离子屏分为一组，其它等离子屏分为一组，然后将各组间的等离子屏所对应的生产工艺中的参数进行对齐，形成到全工序数据；步骤三、对步骤二形成的全工序数据进行缺失值处理，并对所有参数上的观测值进行归一化处理；步骤四、采用特征提取方法对不同分组的产品进行特征提取，筛选出能最大化包括信息增益、增益比、最小化冗余度和最大化相关度在内的三组重要特征的参数列表；步骤五、将步骤四得到的三组重要特征的参数列表进行整合，得到一组统一的重要参数列表，其中包括了在三组重要特征列表中出现在至少两组重要特征中的参数。与现有技术相比，本专利技术的积极效果是:节约了通过反复试验设计与验证的方式所耗费时间和资源成本，提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程参数重要性的准确性。并且通过调整后的新历史数据积累，进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏品质的制造过程参数重要性，制造技术人员依据参数重要性，进行重点参数管控，不但达到持续螺旋式提升等离子显示屏良品率的目的，而且还间接降低制造过程的废品率。同时，在方法模型的使用过程中，不会涉及生产线的中断生产，避免了不必要的停线损失。 具体实施例方式一种，包括如下步骤:步骤一、根据用户提供的全工序生产数据的日期，构建全工序生产工艺的生产数据的数据库；步骤二、对全工序中所有工序的数据内容做串联处理，并按照等离子屏的等级或者不良类型进行划分，将属于特定等级或者特定不良类型的等离子屏分为一组，其它等离子屏分为一组，然后将各组间的等离子屏所对应的生产工艺中的参数进行对齐，形成到全工序数据；步骤三、对步骤二形成的全工序数据进行缺失值处理和归一化处理:所述缺失值处理是指:对于缺失值，按照其它等离子屏的相同参数的观测值的平均值进行填充，目标是使该填充的缺失值对之后的分析框架不产生影响；缺失值处理后，对所有参数上的观测值进行归一化处理，即将该参数在不同等离子屏上的观测值统一到O均值和单位方差这个区间内并同时保证最初不同屏上该观测值的相对大小不变，举例说明如下:设Cit= (αη，α12，...，a in)代表η个等离子屏第i个参数的一组观测值，归一化后新参数观测值的调整方式为:权利要求1.一种，其特征在于:包括如下步骤: 步骤一、根据用户提供的全工序生产数据的日期，构建全工序生产工艺的生产数据的数据库； 步骤二、对全工序中所有工序的数据内容做串联处理，并按照等离子屏的等级或者不良类型进行划分，将属于特定等级或者特定不良类型的等离子屏分为一组，其它等离子屏分为一组，然后将各组间的等离子屏所对应的生产工艺中的参数进行对齐，形成到全工序数据； 步骤三、对步骤二形成的全工序数据进行缺失值处理，并对所有参数上的观测值进行归一化处理； 步骤四、筛选出能最大化包括信息增益、增益比、最小化冗余度和最大化相关度在内的三组重要特征的参数列表； 步骤五、将步骤四得到的三组重要特征的参数列表进行整合，得到一组统一的重要参数列表，其中包括了在三组重要特征列表中出现在至少两组重要特征中的参数。2.根据权利要求1所述的，其特征在于:所述缺失值处理是指:对于缺失值，按照其它等离子屏的相同参数的观测值的平均值进行填充。3.根据权利要求1所述的，其特征在于:步骤三所述对所有参数上的观测值进行归一化处理是指:将各参数在不同等离子屏上的观测值统一到O均值和单位方差这个区间内并同时保证最初不同屏上该观测值的相对大小不变。 ·全文摘要本专利技术公开了一种，根据等离子显示屏生产工艺的产品等级和不良类型，采用特征提取技术，在给定多个特征提取的结果后，将多种特征抽取的方法有机地融合到集成特征提取的过程中，从多个角度获取更加稳定的特征提取结果，从而克服了应用单个特征提取方法的弊端和不稳定性，最终形成对等离子显示屏生产数据的更健壮、更为稳定、更具实际意义的展示。文档编号H01J9/00GK103236383SQ20131016187公开日2013年8月7日 申请日期2013年5月4日 优先权日2013年5月4日专利技术者郑理, 李涛, 王鹏年, 雷鸣, 段冰, 张春, 陈小军, 何根 申请人:四川虹欧显示器件有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种等离子显示屏制造过程参数重要性的动态确定与优化方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一、根据用户提供的全工序生产数据的日期，构建全工序生产工艺的生产数据的数据库；步骤二、对全工序中所有工序的数据内容做串联处理，并按照等离子屏的等级或者不良类型进行划分，将属于特定等级或者特定不良类型的等离子屏分为一组，其它等离子屏分为一组，然后将各组间的等离子屏所对应的生产工艺中的参数进行对齐，形成到全工序数据；步骤三、对步骤二形成的全工序数据进行缺失值处理，并对所有参数上的观测值进行归一化处理；步骤四、筛选出能最大化包括信息增益、增益比、最小化冗余度和最大化相关度在内的三组重要特征的参数列表；步骤五、将步骤四得到的三组重要特征的参数列表进行整合，得到一组统一的重要参数列表，其中包括了在三组重要特征列表中出现在至少两组重要特征中的参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郑理，李涛，王鹏年，雷鸣，段冰，张春，陈小军，何根，
申请(专利权)人：四川虹欧显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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