本发明专利技术公开了一种等离子显示屏制造过程工序并行合理化的确定方法，通过利用制造过程历史数据，建立等离子显示屏制造过程中并行设备的参数设定值的对比关系模型，利用在并行设备间相同参数下不同设定值之间的良率差异，来反映参数设定值对等离子显示屏品质的影响程度，最终形成一种等离子显示屏制造过程工序并行合理化的确定方法。本发明专利技术的积极效果是：提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程工序并行合理化的准确性；并且通过调整后的新历史数据积累，进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏造过程工序并行合理化建议；同时，不会涉及生产线的中断生产,避免了不必要的停线损失。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及具有等离子显示屏制造过程特性的数据挖掘技术分析方法，以该方法为核心，通过软件开发与固化。形成一种。
技术介绍
等离子显示屏制造过程中，由于产能压力(或上下工艺衔接时间紧凑)的原因，往往会同样工序，设置多台相同设备并行生产，具备了比较并行工序参数合理性的硬件条件。但是如何进行合理化确定，以前是通过建设期的试验设计和反复验证来确定。随着生产规划扩大化与7*24小时不间断量产，若继续需要传统的试验设计方法将浪费大量的人力和动能消耗成本，同时还需要生产线进行停线(停止量产)来进行试验参数取值的调试设计。这种方法一方面降低了量产的生产效率，同时将耗费大量的人力和动能消耗成本。因此需要一种新的方法来动态进行制造过程工序并行合理化的确定与优化。随着等离子显示屏大批量产，又面临数据海量状况。等离子显示屏制造过程量产过程中，单台等离子显示屏产品生产过程设备参数纳入MES系统存储达到1.2万个，每天数据量IOG以上，涉及到的参数超过9000个，在数量，维度和数据产生速度上具有海量大数据特征，更加迫切需要专利技术一种新的方法来动态进行制造过程工序并行合理化的确定与优化。本专利技术应这种背景之下展开的。
技术实现思路
本专利技术提供了一种等 离子显示屏制造过程中并行设备参数的确定与优化方法，通过利用制造过程历史数据，建立等离子显示屏制造过程中并行设备的参数设定值的对比关系模型，利用在并行设备间相同参数下不同设定值之间的良率差异，来反映参数设定值对等离子显示屏品质的影响程度，并找到提升等离子屏生产良率的设备参数设定值的调控策略，最终形成一种。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种，包括如下步骤:步骤一、按照工序将工序中的并行设备进行分组；步骤二、对每组中的不同并行设备在保证近似的生产状态下分别进行等离子屏的良率统计；步骤三、对每组中的不同并行设备进行显著性测试，计算实际性能差异；步骤四、对实际性能差异的计算结果区间进行判断:(I)若计算结果区间包含0，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异并没有显著不同，各台设备的参数保持不变；(2)若计算结果区间不包含0，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异显著不同，需要将良率低的设备的参数设定值调整为良率高的设备的相应的参数设定值。与现有技术相比，本专利技术的积极效果是:节约通过反复试验设计与验证的方式所耗费时间和资源成本，提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程工序并行合理化的准确性；并且通过调整后的新历史数据积累，进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏造过程工序并行合理化建议，制造技术人员依据建议值，进行并行工序设备参数值设定，不但达到持续螺旋式提升等离子显示屏良品率的目的，而且还间接降低制造过程的废品率。同时，在方法模型的使用过程中，不会涉及生产线的中断生产，避免了不必要的停线损失。具体实施例方式一种，包括如下步骤:步骤一、按照工序将工序中的并行设备进行分组，每一组内的设备为在同一工序下功能相同的生产设备，因为也具有相同的参数组。在等离子屏的生产过程中，一个设备组通常包含2至3个并行设备；步骤二、针对以上产生的设备组，对每一个组中的不同并行设备在保证近似的生产状态下(即相同时段，动力参数相似)分别进行等离子屏的良率统计；步骤三、对每一个组中的不同并行设备进行显著性测试:针对并行设备的参数设定值将不同设备上的等离子屏的良率进行比较，基于通过各个并行设备的屏数量和良率来区别具备显著性能差异的并行设备，具体的显著性测试方法如下:(I)按如下公式计算方差:`单部设备方差的近似的计算方式为:瑪*其中l_ei为良率；(2)计算累积方差 ^:(3)按如下公式计算实际性能差异:在具备(1-a )的自信度上，两台设备的实际性能差异为:<3* = d，其中，d表不设备间的观测良率差异，a为期望的良率，Za/2表示在当前良率条件下，以当前良率分布为基准的概率。步骤四、对实际性能差异的计算结果区间进行判断:(I)若计算结果区间包含0，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异并没有显著不同，各台设备的参数保持不变；(2)若计算结果区间不包含0，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异显著不同，需要将良率低的设备的参数设定值调整为良率高的设备的相应的参数设定值。本专利技术方法举例说明如下:以两台并行设备M1和M2为例，进行显著性测试方法如下:设备M1在一个统计周期内的良率(gl)为85%，通过M1的屏数量Ii1为30张； 设备M2在一个统计周期内的良率(g2)为75%，通过M2的屏数量n2为5000张；当屏的数量达到一定的值(通常在30)以上时，良率的分布成一个正态分布，即:O1),其中，y i为Ml上的均值，o:为Ml上的方差;e2=l-g2 N(ii 2，o 2)，其中，y 2为M2上的均值，o 2为M2上的方差；方差的近似的计算方式为权利要求1.一种，其特征在于:包括如下步骤: 步骤一、按照工序将工序中的并行设备进行分组； 步骤二、对每组中的不同并行设备在保证近似的生产状态下分别进行等离子屏的良率统计； 步骤三、对每组中的不同并行设备进行显著性测试，计算实际性能差异； 步骤四、对实际性能差异的计算结果区间进行判断: (1)若计算结果区间包含O，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异并没有显著不同，各台设备的参数保持不变； (2)若计算结果区间不包含O，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异显著不同，需要将良率低的设备的参数设定值调整为良率高的设备的相应的参数设定值。2.根据权利要求1所述的，其特征在于:步骤三所述的对每组中的不同并行设备进行显著性测试的方法如下: (1)计算单台设备的方差； (2)计算累积方差貪.: (3)按如下公式计算实际性能差 异: Cit = (IiZ51Atr式中，d表示设备间的观测良率差异，a为期望的良率，Za/2表示在当前良率条件下，以当前良率分布为基准的概率。全文摘要本专利技术公开了一种，通过利用制造过程历史数据，建立等离子显示屏制造过程中并行设备的参数设定值的对比关系模型，利用在并行设备间相同参数下不同设定值之间的良率差异，来反映参数设定值对等离子显示屏品质的影响程度，最终形成一种。本专利技术的积极效果是提升了确定事关等离子显示屏品质的制造过程工序并行合理化的准确性；并且通过调整后的新历史数据积累，进行螺旋式的再利用该分析模型方法寻找出等离子显示屏造过程工序并行合理化建议；同时，不会涉及生产线的中断生产,避免了不必要的停线损失。文档编号H01J9/00GK103236382SQ20131016118公开日2013年8月7日 申请日期2013年5月4日 优先权日2013年5月4日专利技术者郑理, 李涛, 王鹏年, 雷鸣, 段冰, 顾尚林, 伍勇, 皮家任 申请人:四川虹欧显示器件有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种等离子显示屏制造过程工序并行合理化的确定方法，其特征在于：包括如下步骤：?步骤一、按照工序将工序中的并行设备进行分组；?步骤二、对每组中的不同并行设备在保证近似的生产状态下分别进行等离子屏的良率统计；?步骤三、对每组中的不同并行设备进行显著性测试，计算实际性能差异；?步骤四、对实际性能差异的计算结果区间进行判断：?（1）若计算结果区间包含0，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异并没有显著不同，各台设备的参数保持不变；?（2）若计算结果区间不包含0，则说明当前设定值下各台设备的实际性能差异显著不同，需要将良率低的设备的参数设定值调整为良率高的设备的相应的参数设定值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郑理，李涛，王鹏年，雷鸣，段冰，顾尚林，伍勇，皮家任，
申请(专利权)人：四川虹欧显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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