一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法技术

一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法，涉及测量技术领域，本发明专利技术为了解决现有的气浮台高精度测试方法存在测试成本高、操作复杂等问题。步骤如下：将气浮台缓慢转动一周半，确保光栅清零；给气浮台一个很小的初始速度；待气浮台转动到近四分之一后，光栅测角程序每隔时间t0取一个点，连续取9次，记为βi(i＝0，1，…，8)；计算干扰力矩M1，其中J为事先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量；待气浮台分别转动到近二分之一、四分之三、一周后，分别重复步骤四～五，得到干扰力矩M2，M3，M4；综合求得干扰力矩本发明专利技术所述的大惯量单轴气浮台高精度测试方法，计算简单、成本低、误差较小、实用性强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量
，具体涉及。
技术介绍
单轴气浮台是为现代卫星姿态控制而研制的多功能的全物理仿真平台，其原理是通过喷射压缩空气使该平台悬浮于空中，因而整个系统具有阻尼小的优点。在进行卫星姿控系统全物理仿真研究时，必须实测出搭载卫星控制系统后单轴气浮台的转动惯量，确定干扰力矩。干扰力矩是一个关键技术指标，测量气浮台的干扰力矩是气浮台参数标定的需要，也是基轴气浮台的仿真试验的一项重要前期工作，尤其对于高精度的试验系统，需要实现气浮台干扰力矩的高精度测量。目前国内工程实际和现有文献中对于大单轴气浮台的干扰力矩测试多是基于三轴气浮台，成本高，技术及算法复杂，而且对于单轴气浮台测量效果不理想。
技术实现思路
本专利技术为了解决现有的气浮台高精度测试方法存在测试成本高、操作复杂等问题，进而提供了。本专利技术为解决上述技术问题采取的技术方案是:，所述方法按照以下步骤来实现:步骤一:将气浮台调节平衡；步骤二:将气浮台缓慢转动一周半，确保光栅清零；步骤三:给气浮台一个初始速度，初始速度的取值范围为0.0Olrad/s到0.004rad/s ；步骤四:待气浮台的角度转动到四分之一后，光栅测角程序每隔时间h记录光栅在上位机的转角位置，连续记录9次，记为 α=0，1，…，8)，、根据测角仪器的测量精度选取，β j表示角度值；步骤五:按照公式权利要求1.，其特征在于:所述方法按照以下步骤来实现: 步骤一:将气浮台调节平衡； 步骤二:将气浮台缓慢转动一周半，确保光栅清零； 步骤三:给气浮台一个初始速度，初始速度的取值范围为0.001rad/s到0.004rad/s ；步骤四:待气浮台的角度转动到四分之一后，光栅测角程序每隔时间h记录光栅在上位机的转角位置，连续记录9次，记为l(i=0，l，…，8)，、根据测角仪器的测量精度选取，P i表示角度值； 步骤五:按照公式2.根据权利要求1所述的，其特征在于:在步骤五中，Mi的构建过程如下: 首先利用公式全文摘要，涉及测量
，本专利技术为了解决现有的气浮台高精度测试方法存在测试成本高、操作复杂等问题。步骤如下将气浮台缓慢转动一周半，确保光栅清零；给气浮台一个很小的初始速度；待气浮台转动到近四分之一后，光栅测角程序每隔时间t0取一个点，连续取9次，记为βi(i＝0，1，…，8)；计算干扰力矩M1，其中J为事先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量；待气浮台分别转动到近二分之一、四分之三、一周后，分别重复步骤四～五，得到干扰力矩M2，M3，M4；综合求得干扰力矩本专利技术所述的大惯量单轴气浮台高精度测试方法，计算简单、成本低、误差较小、实用性强。文档编号G01L3/00GK103234674SQ20131012720公开日2013年8月7日 申请日期2013年4月12日 优先权日2013年4月12日专利技术者王岩, 赵明, 史月, 付振宪 申请人:哈尔滨工业大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法，其特征在于：所述方法按照以下步骤来实现：步骤一：将气浮台调节平衡；步骤二：将气浮台缓慢转动一周半，确保光栅清零；步骤三：给气浮台一个初始速度，初始速度的取值范围为0.001rad/s到0.004rad/s；步骤四：待气浮台的角度转动到四分之一后，光栅测角程序每隔时间t0记录光栅在上位机的转角位置，连续记录9次，记为βi(i＝0，1，…，8)，t0根据测角仪器的测量精度选取，βi表示角度值；步骤五：按照公式i＝1，2，…，4计算干扰力矩M1，其中J为预先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量；步骤六：气浮台继续旋转，待气浮台的角度分别转动到二分之一、四分之三、一周位置处，分别重复步骤四～五，得到干扰力矩M2，M3，M4；步骤七：综合求得干扰力矩M=M1+M2+M3+M44.FDA00003045106200011.jpg

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王岩，赵明，史月，付振宪，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：