一种带合盖检测功能的治具制造技术

本实用新型专利技术涉及治具技术领域，具体的说是一种带合盖检测功能的治具。该带合盖检测功能的治具包括检测箱、底座、上盖和下盖，所述底座设于所述检测箱上方，所述下盖设于所述底座上方，所述上盖一侧与所述下盖转动连接，将需测试的电路板放置在所述下盖上表面上，所述上盖上设有检测针，所述下盖上表面上设有位移传感器，所述上盖下表面上设有金属触片，当所述上盖与所述下盖闭合时，所述检测针顶住所述电路板上需要检测的点，所述位移传感器的上端顶住所述金属触片，所述检测针和位移传感器分别与所述检测箱电连接。本实用新型专利技术提供一种设计合理、操作方便的带合盖检测功能的治具。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及治具
，具体的说是一种带合盖检测功能的治具。
技术介绍
在现在的电子产品自动测试系统，测试电路板一般都会先将待测电路板放入治具内，然后合盖后开始上电进行测试。如果操作工人忘记了合盖或没有合好就开始上电，待测电路板有可能由于接触不好产生火花甚至烧板，甚至有可能危及操作工人的安全，因此在上电进行测试之前，判断是否合盖很有必要，而且需要把这个信号传给测试系统的计算机。
技术实现思路
本技术提供一种设计合理、操作方便的带合盖检测功能的治具。本技术是通过下述技术方案实现的:一种带合盖检测功能的治具，包括检测箱、底座、上盖和下盖，所述底座设于所述检测箱上方，所述下盖设于所述底座上方，所述上盖一侧与所述下盖转动连接，将需测试的电路板放置在所述下盖上表面上，所述上盖上设有检测针，所述下盖上表面上设有位移传感器，所述上盖下表面上设有金属触片，当所述上盖与所述下盖闭合时，所述检测针顶住所述电路板上需要检测的点，所述位移传感器的上端顶住所述金属触片，所述检测针和位移传感器分别与所述检测箱电连接。所述上盖与所述下盖通过转轴转动连接。所述上盖中部为一片采用透明PC材料制成的固定板，所述检测针和金属触片均设于所述固定板上。所述上盖其中一个的外侧壁上设有一个拉手。本技术所带来的有益效果是:本技术中，所述带合盖检测功能的治具在下盖上设有一个位移传感器，在其对应位置的上盖上设有一金属触片，位移传感器信号输出端与测试系统的计算机相连接。当治具没有合盖或没有合好时，位移传感器传给计算机的是高电平信号；当治具合盖合好时，位移传感器传给计算机的是低电平信号。这样在上电测试之前，计算机先对位移传感器的信号进行判断，如果没有合盖或和好，就不上电测试，只有合盖合好了才上点测试，这样既不会损坏待测电路板，又保证了操作工人的安全。以下结合附图对本技术作进一步详细说明。附图说明图1为本技术所述带合盖检测功能的治具闭合状态的结构示意图；图2为本技术所述带合盖检测功能的治具打开状态的结构示意图。图中部件名称对应的标号如下:1、检测箱；2、底座；3、上盖；4、下盖；5、电路板；6、检测针；7、位移传感器；8、金属触片；9、转轴；10、固定板；11、拉手。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术作进一步的详述:作为本技术所述带合盖检测功能的治具的实施例，如图1和图2所示，包括检测箱1、底座2、上盖3和下盖4，所述底座2设于所述检测箱I上方，所述下盖4设于所述底座2上方，所述上盖3 —侧与所述下盖4转动连接，将需测试的电路板5放置在所述下盖4上表面上，所述上盖3上设有检测针6，所述下盖4上表面上设有位移传感器7，所述上盖3下表面上设有金属触片8，当所述上盖3与所述下盖4闭合时，所述检测针6顶住所述电路板5上需要检测的点，所述位移传感器7的上端顶住所述金属触片8，所述检测针6和位移传感器7分别与所述检测箱I电连接。当治具没有合盖或没有合好时，位移传感器7传给计算机的是高电平信号；当治具合盖合好时，位移传感器7传给计算机的是低电平信号。这样在上电测试之前，计算机先对位移传感器7的信号进行判断，如果没有合盖或和好，就不上电测试，只有合盖合好了才上点测试，这样既不会损坏待测电路板5，又保证了操作工人的安全本实施例中，所述上盖3与所述下盖4通过转轴9转动连接。本实施例中，所述上盖3中部为一片采用透明PC材料制成的固定板10，所述检测针6和金属触片8均设于所述固定板10上。本实施例中，·所述上盖3其中一个的外侧壁上设有一个拉手11。权利要求1.一种带合盖检测功能的治具，包括检测箱、底座、上盖和下盖，所述底座设于所述检测箱上方，所述下盖设于所述底座上方，所述上盖一侧与所述下盖转动连接，将需测试的电路板放置在所述下盖上表面上，所述上盖上设有检测针，其特征在于所述下盖上表面上设有位移传感器，所述上盖下表面上设有金属触片，当所述上盖与所述下盖闭合时，所述检测针顶住所述电路板上需要检测的点，所述位移传感器的上端顶住所述金属触片，所述检测针和位移传感器分别与所述检测箱电连接。2.如权利要求1所述的带合盖检测功能的治具，其特征在于所述上盖与所述下盖通过转轴转动连接。3.如权利要求2所述的带合盖检测功能的治具，其特征在于所述上盖中部为一片采用透明PC材料制成的固定板，所述检测针和金属触片均设于所述固定板上。4.如权利要求3所述的带合盖检测功能的治具，其特征在于所述上盖其中一个的外侧壁上设有一个拉手。·专利摘要本技术涉及治具
，具体的说是一种带合盖检测功能的治具。该带合盖检测功能的治具包括检测箱、底座、上盖和下盖，所述底座设于所述检测箱上方，所述下盖设于所述底座上方，所述上盖一侧与所述下盖转动连接，将需测试的电路板放置在所述下盖上表面上，所述上盖上设有检测针，所述下盖上表面上设有位移传感器，所述上盖下表面上设有金属触片，当所述上盖与所述下盖闭合时，所述检测针顶住所述电路板上需要检测的点，所述位移传感器的上端顶住所述金属触片，所述检测针和位移传感器分别与所述检测箱电连接。本技术提供一种设计合理、操作方便的带合盖检测功能的治具。文档编号G01R1/04GK203101438SQ20132016406公开日2013年7月31日 申请日期2013年3月22日 优先权日2013年3月22日专利技术者钱培玉 申请人:嘉兴市英力电子科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带合盖检测功能的治具，包括检测箱、底座、上盖和下盖，所述底座设于所述检测箱上方，所述下盖设于所述底座上方，所述上盖一侧与所述下盖转动连接，将需测试的电路板放置在所述下盖上表面上，所述上盖上设有检测针，其特征在于所述下盖上表面上设有位移传感器，所述上盖下表面上设有金属触片，当所述上盖与所述下盖闭合时，所述检测针顶住所述电路板上需要检测的点，所述位移传感器的上端顶住所述金属触片，所述检测针和位移传感器分别与所述检测箱电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：钱培玉，
申请(专利权)人：嘉兴市英力电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：