大直径O形圈直径测量工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种大直径O形圈直径测量工具，包括：底座，其上设有直径为D1的第一圆柱体；滑台，其与底座滑动连接，滑台上设有直径也为D1的第二圆柱体，且两个圆柱体的圆心连线与底座和滑台相对滑动的轴线相平行。工作时，将待测O形圈套在两个圆柱体上，通过相对滑动底座与滑台，调节两个圆柱体之间的距离L1，使待测O形圈绷直，根据圆柱体的直径D1、两个圆柱体圆心的距离L1可以得到待测O形圈的直径D=D1+2×L1/π。本实用新型专利技术的测量工具，操作方便，并且测量结果精确度高。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量
，特别涉及一种大直径O形圈直径测量工具。
技术介绍
目前，对于小直径O形圈一般采用投影法精确测量，而对于大直径O形圈，因其直径(内径)与截面直径之比比较大，O形圈无法保持一个标准的圆形，故无法使用卡尺或投影设备来测量其直径，一般采用软皮尺测量其圆周后换算成直径。而用软皮尺测量O形圈直径，操作者需要将O形圈一段段拉直，并将软尺紧贴进行测量，操作较为麻烦，且测量结果精确度不高。
技术实现思路
本技术是为了克服上述现有技术中缺陷，通过一种大直径O形圈直径测量工具，实现方便并且较精确地测量大直径O形圈的尺寸。为实现上述专利技术目的，本技术提供了一种大直径O形圈直径测量工具，包括:底座，其上设有直径为Dl的第一圆柱体；滑台，其与底座滑动连接，滑台上设有直径也为Dl的第二圆柱体，且两个圆柱体的圆心连线与底座和滑台相对滑动的轴线相平行。工作时，将待测O形圈套在两个圆柱体上，通过相对滑动底座与滑台，调节两个圆柱体之间的距离LI，使待测O形圈绷直，根据圆柱体的直径D1、两个圆柱体圆心的距离LI可以得到待测O形圈的直径 D=D1+2XL1/ji。上述技术方案中，优选地，底座或滑台上安装有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大直径O形圈直径测量工具，其特征在于，包括：底座，其上设有直径为D1的第一圆柱体；滑台，其与底座滑动连接，滑台上设有直径也为D1的第二圆柱体，且两个圆柱体的圆心连线与底座和滑台相对滑动的轴线相平行；待测O形圈套设在两个圆柱体上，通过相对滑动底座与滑台，调节两个圆柱体之间的距离L1，使待测O形圈绷直，根据圆柱体的直径D1、两个圆柱体圆心的距离L1可以得到待测O形圈的直径D=D1+2×L1/π。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙步武，
申请(专利权)人：广西玉柴机器股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：