用于估计图像检测装置的纱窗效应的方法和设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于估计图像检测装置的纱窗效应的方法，所述图像检测装置具有多个用于提供光强度信息的图像传感器，所述方法包括以下步骤：确定图像信息的图像特征，所述图像信息基于多个光强度信息（104）和多个参数（108），其中分别为所述多个图像传感器中的每一个分配所述多个参数之一；求得（106）所述多个参数（108）的多个参数值，其中所述图像特征至少接近理想的图像特征，其中所述多个参数代表所述图像检测装置的模型中的纱窗效应。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于估计图像检测装置的纱窗效应的方法和设备
本专利技术涉及一种用于估计图像检测装置的纱窗效应的方法、一种用于校正图像检测装置的纱窗效应的方法以及涉及一种相应的设备。
技术介绍
用于校正纱窗效应的方法在现代图像设备构造和现代图像检测领域中是充分公知的。然而，在大多数应用中，在制造期间和附加地或替代地在特别的实验室环境中估计纱窗效应（英语和专业文献又是：FPN；FixedPatternNoise：固定模式噪声）。一些基于场景的用于降低纱窗效应的方法出现在科学出版物——例如R.C.Hardie,M.M.Hayat,E.Armstrong和B.Yasuda所著的《Scene-basednonuniformitycorrectionwithvideosequencesandregistration》（美国光学学会，应用光学No.8，第39卷，第1241-1250页，2000年或者US2009/0257679A1中。但在此应用的方法主要基于光流或其他与其紧密关联的方法和过程的估计。
技术实现思路
在此背景下，借助本专利技术提出根据独立权利要求的用于估计图像检测装置的纱窗效应的方法、用于校正图像检测装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.11.24 DE 102010061864.01.一种用于校正用于车辆的图像检测装置(102)的纱窗效应的方法，所述图像检测装置具有多个用于提供光强度信息的图像传感器，所述方法包括以下步骤：分别以多个参数(108)加载多个光强度信息(104)中的每一个，以便确定多个经加载的光强度信息(443)；分别确定(445)所述多个经加载的光强度信息的图像特征(447)；通过汇总所述多个经加载的光强度信息的图像特征来确定(449)图像信息的全局图像特征，所述图像信息基于所述多个光强度信息(104)和所述多个参数(108)，其中，分别为所述多个图像传感器中的每一个分配所述多个参数之一，其中，所述图像特征代表所述图像信息的空间特征和/或时间特征；将所述全局图像特征与假设的理想的图像特征进行比较；基于所述全局图像特征与所假设的理想的图像特征的比较求得所述多个参数(108)的多个参数值，其中，所述全局图像特征接近所假设的理想的图像特征，其中，所述多个参数代表所述图像检测装置的模型中的纱窗效应；借助所述多个参数值校正所述多个图像传感器的光强度信息(104)，以便确定在所述纱窗效应方面校正的多个光强度信息(214)。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个参数值中导致经加载的光强度信息的理想的光滑性的那个参数值最好地适合用于减少由所述纱窗效应引起的干扰。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述多个参数(108)代表所述图像检测装置的光响应非均匀性(PRNU)或暗信号非均匀性(DSNU)或者不仅代表所述图像检测装置的光响应非均匀性(PRNU)而且代表所述图像检测装置的暗信号非均匀性(DSNU)。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：P·鲁瑙，M·格泽，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：
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