光纤激光装置以及光纤激光装置的异常检测方法制造方法及图纸

可靠地检测在光纤发生的异常。光纤激光装置1，其特征在于，对光纤导入激励光并生成激光，包含：检测部（PD50），检测作为从光纤的芯漏出的信号光的漏出信号光；判定部（控制部40），在由检测部检测的漏出信号光强度减少了的情况下，判定为发生异常；停止部（激励用LD驱动电源），在由判定部判定为发生异常的情况下，停止激励光的导入。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。
技术介绍
最近，在激发装置或者放大装置使用了光纤的光纤激光装置逐渐高强度化，作为加工用激光的应用正在扩展。如此的光纤激光装置中，有时光纤的芯向着光源发生不可逆的破损，即出现被称作所谓“光纤熔断”的现象。在发生此光纤熔断时，因为到达光源之前所存在的光纤部件被破坏，所以经济损失增加。目前，作为检测如此的光纤熔断的方法，存在专利文献I中公开的检测光纤熔断的光、温度的方法，以及专利文献2中公开的对激励光进行分路并观测，在激励光强度下降的情况下，判定为发生光纤熔断的方法。现有技术文献专利文献专利文献I日本特开2003-227776号专利文献2国际公开第W02004/088881号
技术实现思路
专利技术要解决的问题`对于专利文献I公开的，检测光纤熔断自身的光、或者以此为起因的温度变化，因为需要在被认为光纤熔断传播的全部位置设置监测机构，所以成本增大。另外，存在如下问题，在监测机构的设置位置少的情况下，到激光停止需要时间，并且，因为到激光停止，光学元件已经损坏，所以修理成本增大。另一方面，在专利文献2公开的，检测激励光的方法中，存在如下的问题。S卩，因为在使用DCF (Double Clad Fiber，双包层光纤)构成的光纤激光装置中，激励光在包层中传播，所以即使发生仅仅使芯损伤的光纤熔断，也存在激励光继续传播的可能性，因而有可能不能检测出光纤熔断的发生。因此，本专利技术的课题是，提供能够可靠地检测光纤熔断、光纤的断线等在光纤中发生的异常的。解决问题的手段为了解决所述课题，本专利技术的光纤激光装置的特征在于，对光纤导入激励光并产生激光，其中包含检测部，检测作为从所述光纤的芯漏出的信号光的漏出信号光；判定部，在由所述检测部检测的所述漏出信号光强度减少了的情况下，判定为光纤发生异常；停止部，在由所述判定部判定为所述光纤发生异常的情况下，停止向所述光纤导入所述激励光。根据上述结构，能够可靠地检测光纤熔断、光纤的断线等在光纤中发生的异常。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述检测部检测从所述光纤彼此的连接部漏出的所述漏出信号光。根据如此的结构，因为不需要追加用于检测信号光强度的新光学部件，所以能够降低制造成本。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述连接部是所述光纤彼此熔接而成的熔接部，所述检测部检测从所述熔接部漏出的所述漏出信号光。根据如此的结构，因为不需要追加用于检测信号光强度的新光学部件，所以能够降低制造成本，并且，通过使用漏出信号光强度相对稳定的熔接部，能够可靠并且稳定地检测光纤异常的发生。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述连接部将所述光纤彼此隔开指定距离进行配置，所述检测部检测从所述光纤彼此之间扩散漏出的所述漏出信号光。根据如此结构，因为不需要追加用于检测信号光强度的新光学部件，所以能够降低制造成本，并且，因为如此的连接部相对尺寸大，所以能够容易地确保检测部的设置场所。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述连接部是位于最靠近输出所述激光的输出端的位置的连接部。根据如此结构 ，在装置内的任一位置光纤发生异常的情况下，都能够检测出该异常并使其停止进行。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述检测部检测从设置于所述激光的输出侧和相反侧的全反射光纤光栅漏出的所述漏出信号光。根据如此结构，能够利用从全反射光纤光栅漏出的信号光检测发生的光纤异常，并使其停止进行。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述检测部经由透过所述激光并衰减所述激励光的衰减部，检测所述漏出信号光。根据如此结构，即使是在漏出信号光中混入激励光的情况下，也能够可靠地检测出光纤异常的发生。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述检测部由光电二极管构成，包含校准部，所述校准部检测所述光电二极管的温度，基于检测的温度校准所述光电二极管的检测信号。根据如此结构，能够修正周围温度所引起的光电二极管的检测误差，防止错误检测的发生。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，还包含放大部，所述放大部通过光纤放大所述激光，所述检测部检测从所述放大部输出的所述激光自所述光纤的芯漏出的漏出信号光。根据如此结构，即使是在存在放大部的情况下，也能够可靠地检测出光纤异常的发生，并使其停止进行。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，包含存储部，存储表示时间的信息，所述时间是从检测出所述漏出信号光强度减少直到停止所述激励光的时间。根据如此结构，因为能够知道光纤异常进行到何处，所以，能够迅速地知道作为修理或者交换对象的光学部件。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，所述判定单元基于阈值判定所述光纤异常的发生，所述阈值是作为固定值的阈值、对应于所述激励光或者所述激光的强度的设定值而变动的阈值、或者对应于流过生成所述激励光的激光二极管的电流值而变动的阈值。根据如此结构，通过对应于使用目的等设定阈值，无论使用目的等，都能够可靠地检测出光纤异常的发生。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，在所述激光为脉冲光的情况下，所述判定单元基于多个周期的所述漏出信号光的强度的平均值，判定所述光纤异常的发生。根据如此结构，即使是产生脉冲激光的情况下，也能够可靠地检测光纤异常的发生。另外，其它专利技术的特征在于，在上述专利技术的基础上，对所述光纤导入所述激励光的激励光复用器在多个激励光导入端口中具有空端口，将所述激光的输出侧和相反侧的终端部以及所述空端口中的至少一方作为可见光导入端口。根据如此结构，利用这些可见光导入端口，能够迅速地确定异常发生位置。另外，本专利技术的光纤激光装置的异常检测方法，其特征在于，是对光纤导入激励光并生成激光的光纤激光装置的异常检测方法，该方法检测作为从所述光纤的芯漏出的信号光的漏出信号光，在检测出的所述漏出信号光的强度减少了的情况下，判定为光纤发生异常，在判定为所述光纤发生异常的情况下，停止向所述光纤导入所述激励光。根据如此方法，能够可靠地检测光纤异常的发生。专利技术效果根据本专利技术，可以提供能够可靠地检测光纤熔断、光纤的断线等在光纤中发生的异常的。附图说明图1是表示本专利技术的第一实施方式的构成例的图。图2是表示图1所示的控制部的构成例的图。图3是说明图1所示的第一实施方式中执行的处理流程的流程图。图4是表示本专利技术的第二实施方式的构成例的图。图5是表不本专利技术的第三实施方式的构成例的图。图6是表示本专利技术的第四实施方式的构成例的图。图7是表示本专利技术的第五实施方式的构成例的图。图8是表示本专利技术的第六实施方式的构成例的图。图9是表示本专利技术的第七实施方式的构成例的图。图10是表示本专利技术的第八实施方式的构成例的图。图11是表示本专利技术的第九实施方式的构成例的图。图12是表示本专利技术的第十实施方式的构成例的图。图13是用于说明本专利技术的变形实施方式的图。具体实施例方式下面对本专利技术的实施方式进行说明。应予说明，在以下的实施方式中，虽然关于在发生了光纤熔断的情况下，停止其进行的各个方式进行了记载，但是不限于此。本专利技术具有检测光纤的断线等在光纤中发生的全部异常的功能。(A)第一实施方式图1是表示本专利技术的第一实施方式的构成例的图。如此图所示，第一实施方式的光纤激光装置1，以如下部件为主要构成要素:终端部11，光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.11.29 JP 2010-2648551.一种光纤激光装置，其特征在于，对光纤导入激励光并产生激光，其中包含 检测部，检测作为从所述光纤的芯漏出的信号光的漏出信号光； 判定部，在由所述检测部检测的所述漏出信号光强度减少了的情况下，判定为光纤发生异常； 停止部，在由所述判定部判定为所述光纤发生异常的情况下，停止向所述光纤导入所述激励光。2.如权利要求I所述的光纤激光装置，其特征在于，所述检测部检测从所述光纤彼此的连接部漏出的所述漏出信号光。3.如权利要求2所述的光纤激光装置，其特征在于，所述连接部是所述光纤彼此熔接 而成的熔接部，所述检测部检测从所述熔接部漏出的所述漏出信号光。4.如权利要求2所述的光纤激光装置，其特征在于，所述连接部将所述光纤彼此隔开 指定距离进行配置，所述检测部检测从所述光纤彼此之间扩散并漏出的所述漏出信号光。5.如权利要求2至4中任一项所述的光纤激光装置，其特征在于，所述连接部是位于最靠近输出所述激光的输出端的位置的连接部。6.如权利要求I所述的光纤激光装置，其特征在于，所述检测部检测从设置于所述激光的输出侧和相反侧的全反射光纤光栅漏出的所述漏出信号光。7.如权利要求I至6中任一项所述的光纤激光装置，其特征在于，所述检测部经由透过所述激光并衰减所述激励光的衰减部，检测所述漏出信号光。8.如权利要求I至7中任一项所述的光纤激光装置，其特征在于， 所述检测部由光电二极管构成， 包含校准部，所述校准部检测所述光电二...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫户泰三，柏木孝介，江森芳博，藤崎晃，
申请(专利权)人：古河电气工业株式会社，
类型：
国别省市：