【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及,它可以精确估计单元寿命服从指数分布的串联系统可靠度置信下限,适用于可靠性评估、可靠性验证等相关领域。
技术介绍
电子产品的寿命一般服从指数分布,关于寿命服从指数分布的电子产品某一单元而言,工程上常表现为随机截尾样本,而对这类不完全样本估计可靠度函数较为困难,因此本专利技术针对随机截尾样本的可靠度函数估计具有非常重要的现实意义。电子产品通常包含多个单元,目前评估含多个单元组成的电子产品的系统可靠性的方法有LM法、MML法,二者均属于近似方法,计算方便,在工程上得到广泛应用,但其评估结果都偏保守,评估结果的精度难以控制。系统可靠性评估的精确方法得到的评估结果具有较好的统计性质,但这类方法计算困难,工程实用性不强,因此,探索计算方便的系统可靠性评估精确方法具有十分重要的意义,而目前关于这方面的研究较为薄弱,为此本专利技术提供了一种指数分布串联系统可靠度置信下限估计方法。
技术实现思路
本专利技术给出了 寿命服从指数分布的随机截尾样本的系统可靠度置信下限估计方法,研究较为成熟的定时截尾样本与定数截尾样本是随机截尾样本的特殊形式。首先通过分位数填充算法将随机截 ...
【技术保护点】
一种指数分布的串联系统可靠度置信下限估计方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:步骤一:根据已观测到的失效时间t1,...,tr及删失时间τk利用极大似然估计得到对于参数为λ指数分布F(t)=1?e?λt,(t≥0)而言,按下面公式得到上述指数法分布的参数λ的极大似然估计λ^=rΣi=1rti+Σj=1kτj·mj---(2)其中,所述的失效时间t1,...,tr是指从指数分布F(t)=1?e?λt,(t≥0)的总体中随机抽取n个样本进行寿命试验,在试验中观察其工作状态,若某一时刻开始某一样本不能继续工作,则该 ...
【技术特征摘要】
1.一种指数分布的串联系统可靠度置信下限估计方法,其特征在于:该方法具体步骤如下: 步骤一:根据已观测到的失效时间^...,tr及删失时间...
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